RFID阅读器系统是怎样的_技术

1 问题点

试验过程中，发生误读率过高的异常：

结合实测经验，分析德国RFID复合设备误判Inlay的情况可分为两种：①将良品错误判定为坏Inlay剔除;②将坏Inlay误判为良品未能正常剔除。即如图1所示，0号、2号和3号Inlay（均为良品）存在误排现象;1号（坏Inlay）不能正常剔除。

图1：模拟Inlay在Melzer设备上运动情况

情况①需考虑：增大读写器天线辐射功率;增加读写器判定Inlay好坏的读取次数;调节天线与Inlay的相对位置;增加复合设备的判定时间窗口（后经验证为DuraTIon参数的设定值）;增加Delay参数的设置值等。情况②时我们需做相反方向考虑。远望谷读写器测试主要问题：复合设备高速运行情况下，图1中1号坏Inlay不能正常剔除。按照以上思路调节读写器、复合设备各参数及调节天线与Inlay相对位置均NG。

2 原因分析

经探讨分析可知：读写器测试所遇问题的原因，较大可能为德国RFID复合设备判定时间窗口与读写器输出电平时间窗口匹配问题。即在复合设备判定时间窗口内，Reader若能输出稳定的高电平或低电平，复合设备即可判定该Inlay为良品或劣品，并做屏幕打印、裁切等处理。可见：若解决1号坏Inlay不能正常剔除或降低复合设备误读误排现象，首先需确定复合设备的判定时间窗口（需考虑传感器信号的时间窗口和Trigger的时间窗口）;其次控制Reader输出信号的时间窗口（Reader程序的编写）匹配Melzer设备的判定时间窗口。

（1）写新程序，分别提取传感器的时间窗口、Trigger时间窗口和Reader输出信号的时间窗口，并寻求复合设备中Delay参数与DuraTIon参数设置与以上时间窗口的直接关系。此部分测试需用带有Maker的假Inlay进行测试，模拟Inlay全为良品时不同速度情况下各信号拉高和拉低的时刻。（2）结合读写器输出信号的时间窗口，分析及确定判定读写器输出为有效信号的波形（如图2所示）。四种情况分别为：读写器检测到Trigger信号到来时立刻拉高电平，保持一段时间后在Trigger时间复合设备窗口结束前拉低电平（包含上升沿及下降沿）;读写器检测到Trigger信号到来时立刻拉高电平，保持较长时间且在Trigger时间窗口结束后拉低电平（只包含上升沿）;读写器检测到Trigger信号到来时立刻拉低电平，保持较长时间且在Trigger时间窗口结束后拉高电平（只包含下降沿）;在Trigger时间窗口内一直保持高电平。（3）模拟坏Inlay无规律排列在良品Inlay中的情况，测试新程序下复合设备能否正常剔除劣品。此部分需用真Inlay测试，且模拟情况如图2所示。