安捷伦科技(Agilent Technologies)于8月5-10日在匹兹堡举办的IEEE国际电磁相容技术研讨会中,展示旗下的测试解决方案。
电磁相容性(EMC)已成为新的电气和电子产品的关键需求,目前全球的政府法规,均要求进行正式的认证测试与实地(in-field)监测。安捷伦广泛的电磁干扰(EMI)测试产品,包含了设计、塬型製作、製造与建置所需的测试功能。
安捷伦于研讨会中展示下列测试解决方案:
SystemVue 2012.06:设计师可以使用这个软体,来建立高速数位晶片对晶片(chip-to-chip)和机架到机架(rack-to-rack)链路所需的中通道(mid-channel)中继器和光链路模型,比起使用C语言来进行手动编码,可省下好几个月的编程时间。这些模型之后可送交中继器和光链路客户,好让他们使用ADS先进设计系统中的暂态/迴旋模拟器,将模型整合到完整的端对端通道模拟。
Agilent N9038A MXE:这款完全相容的EMI接收器,可以执行CISPR、MIL STD和DO-160量测。内建的诊断工具包括有频谱分析、光谱图、长条图和柱状图。将Agilent N6141A EMI量测应用软体搭配安捷伦X系列信号分析仪使用,可执行传导放射与辐射放射先期认证测试。
FieldFox射频分析仪和FieldFox向量网路分析仪:这些手持式测试仪器以适合野外/现场环境使用和坚固耐用闻名,可执行多种功能,包括天馈线分析、频谱分析和向量网路分析,内建的QuickCal校验功能,让工程师不需将校验套件带到野外现场即可校验网路分析仪。
新的Agilent PNA-L向量网路分析仪:这款测试仪器以较低的成本和经得起未来考验的功能,提供中阶VNA中最高的效能。安捷伦将使用PNA-L来展示EMC室的特性描述。
Agilent E5061B-3L5 ENA LF-RF向量网路分析仪:Agilent E5061B是符合业界标準的ENA系列网路分析仪的一员,可解决电子元件和电路设计师从低频到高频的各种量测需求。
安捷伦EEsof EDA高速数位设计产品经理Dr. Colin Warwick,在EMC Symposium Global University Signal Integrity课程系列中的The Power of S-Parameters for High Speed Digital Design主题发表演说,该课程涵盖S参数模型的运用,并提供可避免突发问题的秘诀和诀窍。
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