半导体特性分析仪的工作原理,如是德科技的B1500和吉时利的4200

半导体特性分析仪的工作原理,如是德科技的B1500和吉时利的4200,第1张

容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows *** 作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求。

主要测试I-V和C-V,配置不同的模块使用范围不同,比如有的机子不配脉冲模块。IV的主要功能直接使用自带的软件就可以实现,可以参考4200的使用说明书。如果要是外接707A或者81110等外挂的话就得自己编程了,C语言。上keithley中文官网有很多资料可以下载。


欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/dianzi/5926390.html

(0)
打赏 微信扫一扫 微信扫一扫 支付宝扫一扫 支付宝扫一扫
上一篇 2023-03-08
下一篇 2023-03-08

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

保存