1. 在wafer上构建电路, 一般都分为6种工艺,photo,etch,diffusion,thin film,CMP,IMP. 然后有中间有一些yield测试,reliability 测试.
2.
封装测试阶段,sealing,die sawing, mounting等,CP, FT等测试
3. 后段是chip完成,经过测试合格,上PCB板的过程!
est yield 1.85 在微电子工业上应用们意思是: 预计不良率1.85百分点,即良率为98.15% 如果在百万分之一的半导体行业,就是预计不良品1.85/Million, 达到六标准差要求欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
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