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X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法.按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散).

当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光.较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差,因此,X射线荧光的波长对不同元素是特征的.

根据色散方式不同,X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散).

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成.激发单元的作用是产生初级X射线.它由高压发生器和X光管组成.后者功率较大,用水和油同时冷却.色散单元的作用是分出想要波长的X射线.它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成.通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析.探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能,常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等.记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成.通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机,进行联机处理而得到被测元素的含量.

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单.X射线激发源可用X射线发生器,也可用放射性同位素.能量色散用脉冲幅度分析器 .探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同.

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点.前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广.对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求.后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级,灵敏度高.可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定.对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差.

X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达10-5～10-6克／克(g／g),对许多元素可测到10-7～10-9g／g,用质子激发时 ,检出可达10-12g／g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素.除用于物质成分分析外,还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究.

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：4-100号元素定性定量分析。特点：（1）能快速、同时对各种试样的微区内Be-U的所有元素，元素定性、定量分析，几分钟即可完成。（2）对试样与探测器的几何位置要求低：对W.D的要求不是很严格；可以在低倍率下获得X射线扫描、面分布结果。（3）能谱所需探针电流小：对电子束照射后易损伤的试样，例如生物试样、快离子导体试样、玻璃等损伤小。（4）检测限一般为0.1%－0.5%，中等原子序数的无重叠峰主元素的定量相误差约为2%。3、XRD，X射线衍射是测定晶体结构的。X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，分析材料的成分等。

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息

TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成

FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等

Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。

CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压

EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息

BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。

XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。

质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱

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