范德堡法

用范德堡法测没有问题，具体公式你可以在维基百科上面查到。你可以在小圆片四周粘上四个电极，然后相邻两个电极（12,23,34,41）通电流用另外两个电极测电压，然后代入公式即可。

Van der Pauw 法可以应用于任意薄片状样品电阻率的测量，它要求样品均匀中间不能有孔，四个探针位于样品边缘且足够小。由于该方法测量精度高、对样品形状要求低，所以自1958 年Van der Pauw 提出该方法后便很快得到了推广和应用。

如果有霍尔检测仪就非常简单了,直接把霍尔的接头插到霍尔检测仪上,用手慢慢转动电机,霍尔检测仪的三个指示灯会依次闪烁,有不闪烁的就是坏了。

霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或固体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。

霍尔效应测试仪介绍

该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。

仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。

除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。

可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。

广泛应有于半导体厂商。

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