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可靠性领域的国际级专家来了,哈哈,先谢不邀。我来个简单版回答吧,说多了怕哪句话说错,让别人觉得我这个国际级专家名不副实了。
晶体管本身就是一种高度可靠的东西,你知道超净间的标准吗,每立方米的微尘不到1000个。为什么集成电路一直用硅基,而始终不敢用碳基,就是因为硅的本征缺陷浓度极低。还有,关键的制造工艺都是精确到原子级的,就是说生长一层材料都是数着原子数长的,硅片最左边跟最右边的原子数都是相同的。
晶体管也不是一个都不能错,事实上出错是不可避免的,而且硅片面积越大、硅片上每个die(一个硅片上有很多重复单元,每个重复单元叫做die,不知道中文怎么翻译,反正不是“死”。一个die里可以有一款芯片,也可以有多款芯片)面积越大,良率就越低。所以芯片设计时都会有冗余考虑,就是说某些少量晶体管坏了,整体芯片基本没有影响。
即使有冗余设计,往往还是有一定概率出现晶体管坏的太多,导致整个电路不工作的情况。因此硅片上还有die良率的概念,一般都在90%多,基本很少见100%。良率有很多影响因素,比如工艺均匀性,冗余设计是否充分,边缘和中间的差异等。芯片制造完成后都需要测试流程,把失效的芯片剔除出去,这样你看到的芯片就都是好的了。
剔除的芯片也不一定就扔了。举个例子,intel生产了8核的高端CPU,然后测试的时候发现有10%的芯片坏了1~2个核,那么intel的做法就是把两个核屏蔽掉,然后对外宣称卖一些6核的中端CPU。反正用户也感受不到用的是真6核还是“8-2”的假6核。
更bt的例子就是存储器。存储器制造完成后的良率都很差,因此都需要测试、屏蔽坏块。所以你会发现,买到的存储器实际可用容量都比标称的小(当然这里面还有一部分存储空间被用来干别的了),而且完全相同型号相同批次的存储器产品,刚刚买来时的实际可用容量就各不相同。
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