2、ASTM 国际标准:ASTM E2527-17 - Standard Guide for Characterizing Multi-Junction Solar Cells
3、IEC 国际电工委员会标准:IEC 61730-2-1:2014 - Photovoltaic (PV) module safety qualification - Part 2-1: Requirements for multi-junction solar cells
4、ISO 国际标准化组织标准:ISO/IEC 61215:2016 - Photovoltaic (PV) modules - Safety qualifications - Part 2-1: Requirements for multi-junction solar cells
5、JEDEC 国际半导体工程师委员会标准:JEDEC JC-63.6 - Standard Test Method for Characterization of Multi-Junction Solar Cells
6、UL 联合国国际电气委员会标准:UL 1703 - Outline of Investigation for Multi-Junction Solar Cells
7、CEC 联邦能源委员会标准:CEC-500-2012/F - Standard for Multi-Junction Solar Cells
8、SEMI 国际半导体工业协会标准:SEMI PV63 - Standard for Characterization of Multi-Junction Solar Cells
9、TÜV Rheinland 德国莱茵检测标准:TÜV Rheinland PV-001 - Standard for Characterization of Multi-Junction Solar Cells
10、NECES 北美能源技术标准:NECES-PV-001 - Standard for Characterization of Multi-Junction Solar Cells
美国半导体清洗标准。对切割出来的硅片进行打磨、抛光。硅片的表面会有很多大小不一的、各种各样的颗粒,包括金属沫、油污等。这些颗粒是要清洗的内容。1、加热。假设室温20℃的情况下,用加热器将清洗溶液的温度加热到80℃,这样酸碱在高温下能加快反应,得到更好的清洗效果。
2、使用超声波产生气泡,同样能够达到吸取硅片表面杂质的目的。这种情况是在温度要求不能太高的情况下使用的。
3、震动。为了让杂质不会粘贴在硅片表面上,采用一种晃动的方式,让装有硅片的篮子在清洗溶液中充分接触溶液,增加摩擦,有效去污。
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