将试样和标样在相同条件下测得的特征X射线计数率进行上述修正后即可求得真实的X射线强度比,并可作为一级近似,求得试样组分的含量。实际X射线强度与元素含量之间并非呈简单的线性关系。入射电子与试样中的原子会发生一系列d性和非d性散射过程,对电子在试样中的空间分布、背散射及在固体中的能量转换和速度改变起作用。由于试样和标样的组成不同,这些效应不会完全一样。ZAF修正就是将试样和标样对入射电子的原子序数效应(包括背散射和阻止本领)以及对X射线的吸收效应和荧光效应的差别进行比较,从而求出相应的修正因子,然后将X射线强度比转化为元素含量。
ZAF修正的数学模式。
假设在元素A和B组成的二元体系(AB)中,ρ为密度,!(ρz)为X射线的深度
(z)分布函数,wA为A的含量,则AB中所产生的A的特征X射线强度为:
岩石矿物分析第四分册资源与环境调查分析技术
考虑到X射线吸收,则:
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式中:μ/ρ为X射线的质量吸收系数,!为X射线出射角。考虑到荧光效应,引进一个修正项(1+γ+δ)cosec!,γ是特征荧光修正系数,δ是连续荧光修正系数。令x=(μ/ρ)cosec!,则:
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式中
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f(x)ABA是标样(AB)中A元素的特征X射线的吸收因子。
如果用纯元素A做标样,可以得到相应的A的特征X射线强度的表达式:
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因此
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式中: 相当于原子序数修正因子FZ相当于吸收修正因子FA相当于荧光修正因子FF
所以,
这意味着,在进行电子探针测试数据的定量修正计算时,原子序数修正(FZ)、吸收修正(FA)、荧光修正(FF)可以分开处理,方便了具体运算和程序设计。
一些作者提出了多种各具特色的修正计算方法和相应的公式,此处不一一介绍。
除ZAF方法以外,还有一些较为简便的经验修正方法,诸如:标准曲线法,α因子法,δ因子法等。尤其是α因子法,在硅酸盐和氧化物分析中得到广泛的应用。
近几年来有人提出无标样定量分析方法,还有一些作者致力于寻找更精确的X射线深度分布表达式!(ρz),以求进一步完善和改进ZAF修正方法,并已取得一些可喜的进展。
南非地区代码:710, 国际域名缩写是ZAF。地区代码介绍:多用于国际贸易运输中,是国家和城市的简写,是国际上通用的一种国家和城市的指代码,就像每个国家和地区、城市都有自己的英文名字一样,但是有的国家和地区的英文名称拼写太长了,国际贸易过程中为避免繁琐的全称拼写,发明的一种简写形式。比如: 马来西亚(Malaysia),亚洲,国家二字代码:MY
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