Intel 600p固态盘自毁式写入测试:可成功拷出数据

Intel 600p固态盘自毁式写入测试:可成功拷出数据,第1张

Intel 600p固态盘自毁式写入测试:可成功拷出数据

随着SSD的普及,可靠性也成为大家关注的话题,从颗粒来讲,SLC好于MLC好于TLC,当然,更准确的参数应该看TBW(总写入字节数)和PE(program/erase cycles,可编程擦写次数),万一接近限值,就意味着SSD要换了。

近日,TOMH对Intel 600p做了极限测试,600p是最便宜的M.2 NVMe固态盘(TLC颗粒),可谓Intel在SSD市场罕见的价格良心产品

他们的其中一块盘在去年11月9号挂了(256GB),原因是写入量达到106TB,Intel自动保护为“只读”,无法继续使用。

不过,Intel给定的是144TBW,所以并未达到标称值,有些遗憾。

测试是不断电持续进行高负荷地4KB随机写入,算是最伤SSD的行为,最终坚持了50天

在第42天的时候,也就是SSD还有10%左右寿命的时候,他们还对600P使用的Low-Density Parity Check(LDPC,低密度奇偶校验)在10%健康度后的性能进行测试,结果很惊喜,这项技术的确比ECC纠错优秀(号称3倍),老骥伏枥。

不过,LDPC依赖的软硬编码技术的确会增大一定的耗电——

另外,作为首款支持临界保护寿命的产品,600p的确没让数据丢失,测试者成功拷出数据

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原文地址: http://outofmemory.cn/bake/1356526.html

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