Intel 600p固态盘自毁式写入测试:可成功拷出数据

Intel 600p固态盘自毁式写入测试:可成功拷出数据

随着SSD的普及，可靠性也成为大家关注的话题，从颗粒来讲，SLC好于MLC好于TLC，当然，更准确的参数应该看TBW（总写入字节数）和PE（program/erase cycles，可编程擦写次数），万一接近限值，就意味着SSD要换了。

近日，TOMH对Intel 600p做了极限测试，600p是最便宜的M.2 NVMe固态盘（TLC颗粒），可谓Intel在SSD市场罕见的价格良心产品。

他们的其中一块盘在去年11月9号挂了（256GB），原因是写入量达到106TB，Intel自动保护为“只读”，无法继续使用。

不过，Intel给定的是144TBW，所以并未达到标称值，有些遗憾。

测试是不断电持续进行高负荷地4KB随机写入，算是最伤SSD的行为，最终坚持了50天。

在第42天的时候，也就是SSD还有10%左右寿命的时候，他们还对600P使用的Low-Density Parity Check（LDPC，低密度奇偶校验）在10%健康度后的性能进行测试，结果很惊喜，这项技术的确比ECC纠错优秀（号称3倍），老骥伏枥。

不过，LDPC依赖的软硬编码技术的确会增大一定的耗电——

另外，作为首款支持临界保护寿命的产品，600p的确没让数据丢失，测试者成功拷出数据。