CR成像技术在d道实验中的应用
0 引言
在X射线检测中,CCD数字化实时成像系统因其不需要进行胶片冲洗,成像速度快,得到的图像较传统胶片图像质量好而获得了广泛的应。而在d道实验中,由于经常有高速运动的破片,以及高速高压气流和爆炸强冲击力等。往往会对CCD数字成像系统造成损坏,且防护装置体积庞大,因此,很多d道实验无法使用CCD数字成像系统。
而传统的胶片成像使用化学处理X射线胶片,从图像的采集到技术人员的检测,至少需要20分钟。如果胶片曝光量不够或透照角度错误,还必须重新进行所有的程序。此外,还必须配备存放地点和经过培训的员工,并保证安全 *** 作、存储和处理胶片冲洗药液。
CR(computed radiography)技术是介于胶片成像与CCD数字成像之间的中间技术。这种技术类似于胶片成像。它由成像板替代胶片将图像存储起来,然后采用激光扫描仪将成像板中的图像读出来.并将其转换成数字图像。
传统X射线胶片成像系统能摄照的部位都可以用CR成像,CR系统中代替胶片的成像板可重复使用,动态特性线性度比胶片好,图像处理过程不需要暗房,不需要任何化学溶液,可省掉繁琐的胶片冲洗过程,大大加快了成像速度,减轻了 *** 作者的劳动强度;而且其图像信息是以数字形式读出,非常方便进行图像处理。
与CCD数字化实时成像相比,CR的最大优势在于仅以成像板代替X射线胶片。由于读取设备与成像板分离,故在d道实验中的防护容易实施。
为了提高d道实验图像诊断的效率和图像质量,南京理工大学瞬态物理国家重点实验室于2008年组建了用于d道实验的X射线CR成像系统。
1 CR成像原理
CR成像技术将透过物体的X射线影像信息记录在由荧光物质制成的、有存储功能的荧光板上,这种存储荧光板又称成像板(image plate,简称IP)。IP板曝光后会在其荧光层中形成潜影,将带有潜影的IP板放入激光扫描仪中通过激光束扫描读取,即可将潜在的像还原成可见光的像,再进行计算机采集处理,从而得到数字图像。因此,CR成像的工作过程主要由X射线曝光和读取IP板潜影两部分组成。
1.1 曝光
当X射线辐射到成像板时,成像板内的增感屏将吸收的X射线转换成可见光的影像,同时荧光晶体中的电子被激发到导带,然后,电子将自发地回到半稳态能级,形成潜在影像。图1所示是其成像板的曝光原理示意图。
1.2 读取
将成像板放入激光扫描仪的扫描单元,再用激光束扫描成像板,这样在激光激发下,激光能量释放被俘获的电子,使其返回其初始能级,并产生可见光发射;光发射的强度与原来接收的射线剂量成比例;光电接收器接收可见光并将其转换为数字信号送入计算机进行处理,从而得到数字化的射线照相图像。图2所示是CR成像板的图像读出原理示意图。其图像可由激光扫描仪的光子放大器采集并转换成数字信号,以将其储存在计算机中。但应注意:成像板上的成像数据必需在半小时内扫描。
1.3 擦除
成像板使用前,应擦除成像板上的所有信息。使用强光可擦除荧光层残留的影像,图3所示是其擦除原理图。大多数情况强光照射15秒,就可以完全有效地擦除成像板的信息。但有时擦除时间要增加到最大60秒。
2 CR成像系统的组成
CR成像系统的主要装置包括影像采集部分(IP板)、影像扫描部分(激光扫描仪)、影像后处理和记录部分(成像软件),图4所示是其系统组成示意图。
2.1 成像板
成像板的构造一般分为:底层(起支撑作用)、荧光层(形成潜影)、保护涂层、端口附加密封剂四个部分,其结构如图5所示。
通常传统胶片的灰价值大于700,半导体接收器的灰价值在1000~10000之间。德尔NDT成像板一般可储存65000灰价值范围的图像,并可消除曝光不足和曝光过度的影响。
2.2 激光扫描仪
图6所示的德尔CR 35 NDT激光扫描仪是与IP板配套的现代扫描工具,其创新的光子收集系统技术可将图像噪音和干扰降到最低,以近乎100%的效率将激活的X射线信息扫入系统,其分辨率可以达到20LP/mm。
在图6中,德尔NDT的激光束会在光子收集系统中高速旋转,而精密光学棱镜的使用则保证了激光焦点的直径可以达到12.5μm。依靠专利的抛物面反射镜系统及其特殊的高效涂层,所激发出的冷光束可被收集并定向到光电倍增管的接收器,这样可以提高其信噪比,同时干涉也会急剧减少。因此,其图像的质量可以分辨出最小的细节。
2.3 成像软件
通过D-Tect成像软件,CR 35 NDT扫描仪可以读取、处理及保存这些数字化信息,并将信息存档及交流。同时,成像软件还具有先进的数字图像评片功能和数据管理功能,以及强大的数据共享能力。
3 CR成像系统在d道实验中的应用
将CR成像系统安装在d道实验装置时,其IP板的安装使用方法与X射线胶片的安装使用方法基本相同,而且其防护措施也相同。图7为部分d道实验图片。
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