圆我“铁电梦”,关于FRAM网友有话说!

圆我“铁电梦”,关于FRAM网友有话说!,第1张

近几年,FRAM(铁电存储器)比较火,特别是在三表的应用中。网上也有不少对FRAM技术的讨论。这不,小编看到了一篇分享,是某网友总结的FRAM应用的心得,发布在这里供正在使用和将来要使用FRAM的筒子们参考~

网友分享原文如下:

前段时间曾在申请过某公司的样品,苦苦等了两个多月,后来由于种种原因样品没能申请成功,就暂停了我的铁电之旅。

在一次活动上了解到了富士通的铁电,才发现原来富士通这么牛,铁电出了这么多型号。于是马不停蹄的申请了样品MB85RC256V,让我有机会圆了“铁电的梦”。

铁电存储的优势很明显,与 EEPROM 、 FLASH 等传统的非易失性存储器相比,具有优越的高速写入、高读写耐久性和低功耗性能。好了,进入正题,先看下样品的外貌↓↓↓

好吧就是这么巧!一直以蹭网为生的我,刚好又赶上断网,只好用流量下了个手册下了个I2C的代码,准备正式测试这个神奇的铁电。but~经过研究想在这短短的几天时间写死MB85RC256V这家伙是不太现实的!

脑回路一转,咱们玩点有意思的,测试一下MB85RC256V的写入速度和低功耗把~虽然测试的方法简单,但解决的这个问题正是我以前遇到过的,就是这么6!

首先是飞线,得益于我那超凡的焊功,这个片子没费多少功夫就焊成这样:

还是挺漂亮的,然后连接到LaunchPad的效果是这样:

富士通铁电存储器MB85RC256V写入速度与功耗测试原理及流程是这样的:

检测原理

通过二极管将外部电源与测试板电源隔离 测试板使用1个10uF和1个100nF电容畜电

工作时掉电检测I/O由外部电源拉高

单片机工作时处于低功耗状态

当外部电源掉电后,掉电检测I/O通过下拉电阻产生下降沿中断

产生下降沿中断时唤醒单片机 同时向MB85RC256V 地址0写入0x55 并点亮LED耗尽测试板电容剩余电量

单片机每次上电会从MB85RC256V 地址0读取一个字节数据,判断是否为0x55,如果是则点亮LED说明曾向此处写过数据

为方便下一次测试,使用按键清除MB85RC256V 地址0数据,将数据置零

测试流程

开发板上电工作

断开测试板外部电源

开发板由电容器内部存储的电能短时供电

I/O产生中断

写入 0x55数据到MB85RC256V 地址0

LED点亮耗尽剩余电量

测度板重新上电

通过查看LED状态,如果LED点亮说明写入0x55成功,否则失败

开发环境

使用TI LaunchPad MSP430G2553开发板

使用物理I2C P1.6 SCL P1.7 SDA

使用P1.3作为按键 输入 上拉电阻 下降沿中断检测

使用P2.0作为掉电检测引脚 输入 下拉电阻 下降沿中断检测

下好程序后需去掉J3所有跳帽 防止电流通过I/O流入

MB85RC256V使用杜邦线飞线连接

使用47K外部上拉电阻

MB85RC256V地址线全部拉地

测试心得总结

MB85RC256V绝对是个很牛的东西,配合msp430使用10uF+100nF来实现掉电数据保存真的是绝配!每次掉电后红色LED是会闪亮一小下的,也就是说MB85RC256V写完数据后还有很多电量供LED发光。这种情况下普通的EEPROM是不可能实现的,不信的朋友可以试试哦~

看完网友的分享,你是不是也对咱们富士通的铁电也产生了浓浓的兴趣呢?点击此处“阅读原文”可了解更多哦~

欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/dianzi/2457735.html

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