DDS+MCU实现运算放大器参数测量系统

　　引言

　　为了方便用户准确掌握手中运放的各项参数,本文提供了一种采用可编程DDS芯片和MCU的测量系统,可自动测量集成运放的5项基本参数,以小液晶屏显示测量结果,并可根据需要打印测量的结果,与现有的BJ3195等昂贵测试仪相比,该测量系统功能精简、 *** 作智能化、人机接口友好。

　　系统总体设计

　　系统框图如图1所示。系统以SPCE061单片机为控制核心,采用主从结构,从单片机负责外围的液晶显示、打印、语音提示等功能。主单片机负责接收红外键盘的输入信息,根据当前用户输入,将参数测试部分以及自动量程切换部分设置到合适的状态,然后对测量结果进行读取,并通知从机对测量结果进行显示或打印。系统的DDS扫频信号源,可以通过红外键盘设置输出4MHz以内的任意频率以及任意频率段任意步进的正弦信号。为了提 高测量精度,系统另配了一套标准运放参数测量电路,对系统进行初始校准。

　　测量功能电路结构

　　SPCE061简介

　　SPCE061是凌阳科技股份有限公司推出的16位MCU,最高工作频率可达49MHz,内置32KB的ROM以及2KB的RAM,具有红外通信接口和异步全双工串行接口。另外,SPCE061提供非常方便的开发平台和音频编解码工具,使得SPCE系列单片机不仅控制功能强大、开发周期短,且易于实现主从机架构。

　　测量主电路

　　测量运放参数的电路如图2所示,该电路系统传递函数中引入了两个放大环节,因此存在两个或者两个以上的极点,由奈奎斯特稳定性判据,对于闭环反馈系统,若有极点分布在频域右半平面,在深度负反馈测试时会产生自激振荡,导致无法正常测试。因此,本系统改进了该电路,在反馈回路中加入560pF电容与RF并联,补偿信号的相位,改变整个反馈通道的幅频特性,增加其相角裕度,经测试,闭环回路工作稳定性大幅提高。

　　图2中,S1、S2、S3、S4均为继电器,由SPCE061控制其导通与关断,从而实现VIO、IIO、AVD、KCMR、BWG的自动测量,其中BWG由继电器切换到另一路扫频仪单独测量。

　　根据式(1)、(2)、(3)、(4)可计算出VIO、IIO、AVD、KCMR：

　　程控放大电路

　　由于被测参数都是mV级电压,应对辅助运放闭合环路的输出信号分两档测量,在自动测量时,这两档的切换由MCU控制,因此需设计程控放大电路。本设计采用仪用放大器AD620,通过S5、S6改变其反馈电阻,以控制增益。由于仪用放大器为差模输入,且输人为5Hz的低频信号,为抑制工频干扰,在AD620的输入级滤波,采用二阶有源滤波电路,考虑其通带平坦度,采用二阶巴特沃兹低通滤波器,截止频率设为20Hz。