美国国家仪器(NI)推出第二款向量信号收发器NI PXIe-5645R。此款VST采用软件设计架构,工程师可通过LabVIEW修改以满足特定需求。全新的VST新增了一组高效能的差动或单端点I/Q界面,只要通过单一仪器即可测试RF与基频信号,而且最先进的PC与FPGA技术也有助于提高测试速度。
NI的RF研发副总Jin Bains 示“全新的 NI PXIe-5645R 向量信号收发器具有软件设计架构,可提供非常优异的d性,适用于RF收发器基频测试等应用”。
NI PXIe-5645R产品特色
● 65MHz~6GHz的频率范围、80MHz的瞬间频宽、24个高速数位I/Q通道
● 基频I/Q信号可差动或是单端输入、输出,16位元资料取样率 120MS/s,频宽可达 80MHz
● 可设定的开放式FPGA,工程师可加以客制化并自行定义功能
● 使用者可下载预置的IP、加以修改并用于最常见的应用,如需更多资讯请参考 www.ni.com/vst/zht/
更多资源
● 产品、影片、技术文章:http://www.ni.com/vst/zht/
● 使用者解决方案:http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-14977
联络人
陈姵彷 Peifang Chen
MarkeTIng CommunicaTIon Coordinator
Tel:(02)2377-2222 EXT:7355
Fax:(02)2377-2929
Email: pei-fang.chen@ni.com 该E-mail地址已受到防止垃圾邮件机器人的保护,您必须启用浏览器的Java Script才能看到。
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