STS适用于RF、混合信号和MEMS半导体器件的生产测试

STS适用于RF、混合信号和MEMS半导体器件的生产测试,第1张

STS是一款直接可用于量产环境的ATE,具有高吞吐量、低成本等优势,适用于RF混合信号和MEMS半导体器件的生产测试。STS可直接用于生产用test cell,支持manipulator、分选机和晶圆探针台以及标准d簧针布局,可实现高度可移植的负载板和测试程序。 STS具有一套统一的软件工具,可帮助用户快速、高效地开发、调试和部署测试程序。除了该系统,NI还提供有工程开发服务、bring-up服务、培训和技术支持,确保您获得完整的解决方案。

主要优势

●全面的RF、数字和直流仪器产品组合—您可以自定义新的STS配置并升级现有测试仪,以纳入您需要的仪器资源,同时保持测试程序和负载板的可移植性。

●统一的软件体验—STS提供了标准的软件来开发、调试和部署mulTIsite测试程序,包括引脚/通道匹配图、测试阈值导入/导出、binning和STDF报告。

●现成的测试代码—使用拖放式软件模板来完成常见的半导体测试任务,比如连续性检查、泄漏测试或数字pattern载入,或者RF波形生成或采集以测试5G NR等最新无线标准。

●Test Cell集成—标准docking和连接设施可允许与manipulator以及器件测试分选机无缝集成来进行封装测试,也可与晶圆探针台集成进行晶圆测试。

●系统校准—可对系统级数字和直流资源(比如d簧探头接口等)和直流资源(比如RF盲插等)进行现场校准,并可选择使用矢量反嵌文件来校准DUT。

●服务和支持—工程服务、bring-up服务、培训和技术支持均可帮助您快速设置和启动系统。
       责任编辑:pj

欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/dianzi/2534042.html

(0)
打赏 微信扫一扫 微信扫一扫 支付宝扫一扫 支付宝扫一扫
上一篇 2022-08-05
下一篇 2022-08-05

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

保存