海派世通的FlashXE®可实现3D NAND的最大可靠性

　　最近推出的FlashXE生态系统通过一系列功能集确保了基于NAND闪存的存储系统的最大可靠性，该功能包括广泛的校准，出色的纠错恢复，错误避免和刷新机制。

　　德国康斯坦茨， 随着海派世通最新X1低功耗SSD控制器的推出，海派世通推出了最新技术--FlashXE®eXtendedEndurance。 FlashXE®是一种功能集，包括广泛的校准，纠错恢复，错误避免和刷新机制，以确保基于NAND闪存的存储系统的最大可靠性。随着NAND闪存的成本降低以及3D NAND等新技术进入市场，管理该介质所需的技术和算法需要推进。因此，纠错和复杂的闪存管理要求从未如此之高。 FlashXE®生态系统通过不同机制和算法的复杂环境来解决这些问题，以防止，检测和纠正错误。

　　在错误发生或系统组装前就开始了功能，机制和流程的集合。资格认证过程以每种支持的闪存类型在其生命周期和不同的工作温度为特点。然后，该知识在固件的基本闪存支持中实现，并随控制器一起提供。在 *** 作期间的下一阶段确保控制器在闪存的寿命期间连续调整读出电路的电压电平。控制器还采取进一步措施来防止诸如动态数据刷新，近乎丟失的ECC和读取干扰管理之类的错误。在后续阶段，尽管采取了前面提到的预防措施，但在两个单独的模块中存在严重的错误纠正，一个基于BCH代码以及新的通用级联代码（GCC），并支持软解码。

　　“在控制器设计和 *** 作的不同阶段实施了各种最先进的功能，确保存储解决方案的极高可靠性”。海派世通产品经理Sandro-Diego Wölfle表示。“最终，我们的目标是将闪存的可靠性提高到所有存储供应商因为知道他们的系统有海派世通的控制器支持而感到安全可靠”。 FlashXE®集体系统可与海派世通最新的闪存控制器X1一起使用。 X1是一款高效，低功耗的SSD控制器，适用于坚固耐用且符合工业要求的基于NAND闪存的存储解决方案。