JDSU 400G 以太网测试平台基于Xilinx 20nm UltraScale 器件

JDSU 400G 以太网测试平台基于Xilinx 20nm UltraScale 器件,第1张

几个星期之前在2015OFC展上,JDSU 推出了基于20nm UltraScale全可编程器件的预标准ONT 400G以太网测试平台。新的测试平台采用了JDSU成功的ONT测试平台结构,其率先提出了使用更少测试装置的全模块压力测试的概念。400G以太网标准目前处于不断变化中,JDSU需要一种可靠的技术可以同时支持400G以太网标准和JDSU不断成长的产品线的发展。这就是为什么JDSU选择20nm UltraScale FPGAs:因为这些器件可以满足这种速度要求,SerDes端口具有足够的灵活性来支持400G的发展以跟上不断的发展和未来的标准变化。可能你的高速网络项目会有这种类似的需求。

大家知道,这样领先的产品在新闻稿中是一回事。运行在真实的硬件上展示工作演示又是另外一回事,所以下面是我们特别拍摄的来自2015OFC视频演示,眼见为实:

欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/dianzi/2572848.html

(0)
打赏 微信扫一扫 微信扫一扫 支付宝扫一扫 支付宝扫一扫
上一篇 2022-08-07
下一篇 2022-08-07

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

保存