瑞萨推出一款汽车测试芯片 28纳米MCU内置自测试功能增强

据外媒报道，当地时间2月19日，日本瑞萨电子株式会社（Renesas Electronics CorporaTIon）宣布研发，并成功运行验证了一款汽车测试芯片，可实现采用28纳米（nm）低功耗工艺的下一代汽车控制闪存微控制器（MCU）。瑞萨电子是全球领先的先进半导体解决方案供应商。

该MCU有4个600兆赫（MHz）CPU（中央处理器），具备锁步机制和16MB闪存容量以及：1、支持MCU虚拟化的虚拟化辅助功能：该技术允许多个软件组件在一个MCU上运行，互不干扰，从而满足道路车辆ISO 26262功能安全标准规定的最高汽车安全完整性级别ASIL D的要求。

2、内置的自测试功能（BIST）得以增强，可用于MCU自诊断故障检测，这也是满足ASIL D的必备功能。能够满足ASIL D得益于其配备了新研发的备用恢复内置自测试功能，可在备用恢复期间执行内置自测试功能。

3、用于高速传输传感器信息的千兆以太网接口等网络功能得以增强。

瑞萨将在于2月17至21日在旧金山举行的2019年国际固态电路会议（ISSCC）上展示其测试结果