Xilinx DDR3控制器接口带宽利用率测试(二)

Xilinx DDR3控制器接口带宽利用率测试(二),第1张

一.单Bank多行切换测试

描述:单Bank内行切换时,每次打开一个Row,进行一次写 *** 作以后,必须重新打开另外一个Row,才能进行该Row的写 *** 作。两个Row打开 *** 作有时间间隙要求,打开Row到写 *** 作也有时间间隙要求。因此导致单Bank内行切换时,带宽利用率极低。图中每个写 *** 作中8个数据有效,后8个数据无效。因此,在一个写 *** 作所占用的时间内,有效时间仅有8ns,无效时间为60ns,导致总的带宽利用率仅为8/68=11.8%。

Xilinx DDR3控制器接口带宽利用率测试(二),Xilinx DDR3控制器接口带宽利用率测试(二),第2张

图2 单Bank多行切换时序图

二.两Bank不换行平滑过渡测试

描述:先在Bank0的同一个Row内连续写8次然后过渡到Bank1的同一个Row内连续写8次。可以在Bank0的写 *** 作过程中打开Bank1的一个Row,而不影响Bank0的写 *** 作。由于提前了足够的时间打开Bank1,那么等Bank0的写 *** 作结束后,可以直接平滑的过渡到Bank1的写 *** 作阶段,中间没有等待。在不考虑DDR3的定时充电对带宽的消耗,以及读写切换对带宽的消耗,这种工作模式的带宽利用率接近100%。这种应用模式很适合于数据的连续缓存,可以使带宽利用率最大化。

Xilinx DDR3控制器接口带宽利用率测试(二),Xilinx DDR3控制器接口带宽利用率测试(二),第3张

图3 两Bank不换行平滑过渡时序图

欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/dianzi/2580139.html

(0)
打赏 微信扫一扫 微信扫一扫 支付宝扫一扫 支付宝扫一扫
上一篇 2022-08-08
下一篇 2022-08-08

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

保存