源测量单元(SMU) 由于其将可编程电源、可编程负载和DMM的功能集成到一台仪器而日益普及。 然而,大多数工程师只是表面上理解了SMU对其测试系统性能和吞吐量的影响。 为了实现减少成本和测试时间的最终目标,以下七个技巧可让您更快速、更经济地分析和验证产品。
1. 使用示波器监测启动电压SMU未达到稳定状态就开始测量会导致不确定的测试结果,但等待过久又会浪费宝贵的时间。 这时,您可使用示波器或数字化仪来探测SMU的输出电平,同时将其连接到待测设备(DUT)以确保等待SMU达到稳定状态开始测量的时间不会过短或过长。
图1. 使用示波器或数字化仪探测SMU的电压输出线,优化测量质量和时间。
过去查看SMU的输出需要使用配有电压和电流探针的外部示波器。 而PXIe-4139精确系统SMU集成了一个1.8 MS/s数字化仪,避免了使用外部示波器和外部电缆的需要 - 输入功率可直接通过内部通道探测。 此外,如果在测试过程中发现任何嘈杂的电源轨,可以使用数字化仪进行故障排除。
图2. PXIe-4139精确系统SMU具有集成的数字化仪,可简化特性分析和验证过程中输出功率电平的监测。
2. 评估单位通道价格和测量时间解决高通道数测试要求的一个常见方法是在SMU和待测设备之间添加一个开关或多路复用器。 虽然这种方法比较经济,但会让测量序列化,大大降低工作效率,因为我们必须等待开关达到稳定才能开始测量。
图3. 针对高通道数应用增加SMU通道可提高生产效率,并大大降低测量时间。
模块化SMU通道密度的最新改进极大地降低了SMU系统的单位通道价格。 PXIe-1085 24 GB/s机箱等18槽PXI机箱可以容纳多个4通道SMU,比如PXIe-4141精确SMU,在19英寸的测试仪器机架中形成一个68通道系统。 由于采用PXI架构,所有SMU均可共享相同的CPU、触发线和电源,这样不仅有助于降低资金成本,而且可减小生产车间的占地空间成本。
图4. 高密度PXI SMU能够在单个4U机架内形成高达68 SMU通道的系统。
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