物联网时代,四大测试平台助力工程师用测试工具节省开发时间

物联网时代,四大测试平台助力工程师用测试工具节省开发时间,第1张

互联网的发展为我国经济带来了强大的内在驱动力,以电商、物流、移动支付等为代表的经济形式支撑着国家经济发展。互联网余波未去,物联网时代即将来临,作为国家重点扶持的新兴战略型产业,IOT有着非常广阔的前景。


 

物联网产业涉及设备制造商、系统集成商、网络运营商、平台供应商等,我国的物联网行业发展迅速,2015年物联网产业规模达到7500亿元,公众网络机器到机器(M2M)连接数突破1亿,占全球总量31%,是全球最大市场。目前已形成环渤海、长三角、泛珠三角以及中西部地区四大区域聚集的发展格局。

据相关数据预测,到2020年,具有国际竞争力的物联网产业体系基本形成,包含感知制造、网络传输、智能信息服务在内的总体产业规模突破1.5万亿元,物联网技术研发水平和创新能力显著提高,适应产业发展的标准体系初步形成,物联网规模应用不断拓展,泛在安全的物联网体系基本成型

IOT时代的工程师面临的挑战有哪些?

面对物联网的巨大机遇,很多企业纷纷加入其中。对于工程师而言,IOT时代的挑战并不少。无论是“物物相连”带来的巨大安全隐患;亦或是海量数据给平台带来的巨大压力,让工程师开发和部署完整的物联网解决方案更加困难;还是海量设备带来更大的测试测量、分析挑战等。

这些挑战必须得到解决,才能确保IOT整个网络的正常运行。

如何巧用测试工具节省开发时间?

在机遇与挑战并存的物联网时代,巧妙节省设计和研发时间,让产品尽快上市抢占市场先机,是每个产品人都需要考虑的问题。对于工程师而言,在测试上花更少的时间达到更好的测试效果,为产品开发节省宝贵时间,这就成功了一半。

IOT设备设计和研发人员面对不断出现的各种挑战,他们需要精确、可靠的测试和测量解决方案来应对这些挑战,为此,OFweek电子工程网编辑就相关问题询问了全球知名的测试测量企业是德科技相关技术人员。据介绍,使用是德科技的解决方案,工程师们不仅能获得更快的上市时间,而且能增加他们的设备在市场上成功实施的可能性。

四大测试平台助力IOT

一、NB-IOT/LoRa测试平台

物联网应用中的无线连接技术有很多种,而NB-IOT和LoRa是其中最受欢迎的几种之一。NB-IoT是IoT领域一个新兴的技术,支持低功耗设备在广域网的蜂窝数据连接,也被叫作低功耗广域网(LPWAN)。NB-IoT支持待机时间长、对网络连接要求较高设备的高效连接。LoRa作为一种低功耗无线广域网,也是一种建立世界各地IoT网络的主流技术,这种无线射频技术可应用在汽车、路灯、制造设备、家用电器、可穿戴设备等。

据相关工作人员介绍,这款NB-IOT/LoRa测试平台能提供三方面的测试,即NB-IOT芯片/模块/终端研发与生产测试、NB-IOT射频与协议认证测试、LoRa物理层发射与接收测试。

二、Wifi/BLE/Zigbee/Zwave测试平台

通讯技术是实现物联网最基本的底层技术之一,而各种通讯协议及技术层出不穷,这些技术各有优劣,Wifi技术应用非常广泛,几乎各大商场、公园、办公楼等公共场所均设有免费Wifi连接,而随着物联网全面铺开,BLE、Zigbee、Zwave等技术的应用也将非常广阔。

针对这些技术开发,是德科技的Wifi/BLE/Zigbee/Zwave测试平台为工程师大大减少了测试时间,帮助产品快速面市。这款平台能提供Zigbee/Zwave 研发与生产测试、Wifi/BLE 终端的OTA射频功能测试以及终端的GPS/北斗导航接收机性能测试。

三、NFC/RFID测试平台

NFC是一种新兴的技术,使用了NFC技术的设备(如手机)可以在彼此靠近的情况下进行数据交换,是由非接触式射频识别(RFID)及互连互通技术整合演变而来,通过在单一芯片上集成感应式读卡器、感应式卡片和点对点通信的功能,利用移动终端实现移动支付、电子票务、门禁、移动身份识别、防伪等应用。

设计、研发人员在进行NFC的相关测试时,选用NFC/RFID测试平台,能进行NFC/RFID 模块的研发测试、基于NFC/RFID的智能卡测试和物联网终端的无线充电测试。据工作人员介绍,这款平台具有非常高的性价比,适合绝大多数的工程师使用。

四、物联网功耗测试平台

物联网要实现“物物相连”,而海量的连接必然带来巨大的能量损耗,低功耗是这个时代的特点。对于工程师而言,在节省开发时间的同时,保证低功耗测试的质量和稳定性至关重要,测试成本、测试灵活性、测试稳定性等是它们关注的。

据介绍,这款物联网功耗测试平台能提供物联网模块的小电流精准测试、物联网终端的功耗测试及物联网终端的续航时间分析,对于工程师而言,灵活、便捷的 *** 作将带来更快的研发周期。

总结

物联网时代,几百亿台设备连接到互联网上,这将给设计、研发工程师测试带来巨大的挑战。在很多场景下,如果仍执着于万用表示波器、探头等传统测试测量工具,巨大的工作量将极大地延迟产品上市周期,而是德科技展示的四款针对IOT时代的测试测量平台,无疑是工程师的首选。

欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/dianzi/2679587.html

(0)
打赏 微信扫一扫 微信扫一扫 支付宝扫一扫 支付宝扫一扫
上一篇 2022-08-14
下一篇 2022-08-14

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

保存