封装行业近年来一直处于新材料、新工艺的快速驱动及发展阶段,SMD贴片封装、倒装COB、“免封装”、CSP、EMC封装等,几条技术路线并存,互相竞争,但谁也无法一统天下。
EMC支架具高耐热、抗UV、通高电流、体积小、抗黄化的特性,为追求成本不断下降的LED封厂带来新选择,国内厂家对于EMC的研发及量产的脚步似乎走得更快了一些,包括天电光电、鸿利光电、晶科电子、斯迈得、瑞丰光电、以及晶台光电等在内的主流封装厂商均已开始采用EMC封装。
跟PPA及PCT材料不同,由于EMC材料无法回收利用,EMC的结构形式以及制造良品率都会影响到支架的成本,同时,需要较好的铜片材料以匹配EMC材料的高可靠性,造成支架成本居高不下。另外,目前EMC支架整体成本和精度都有待提升,核心技术仍然集中在日本和台湾企业手中,国内封装厂基本都是购买支架封装。天电光电是国内最大支架生产厂商,但产能仍落后于日本企业。
EMC封装产品会有怎么样的产品性能?是否有能够和其他封装形式相媲美的资本?未来能否成为主流封装形式之一?笔者将为您一一揭晓。
评测样品是来自福建天电光电科技有限公司的EMC封装产品,产品型号为1A1A,外观如图1所示。
发光面焊盘
图1天电1A1A产品外观图
此款产品的外观尺寸为10mmX10mm,发光面直径高达9.4mm,发光面约占总面积的69.3%,样品功率为20W。
1、基本光色电性能首先,利用远方光谱分析系统及2m积分球(图2),并随机抽取5颗样品对该款产品进行了光色电参数基本测试,其测试结果如表1所示。
图2 远方光谱分析系统及2m积分球
表1 1A1A产品基本光色电参数(@540mA)
可以看出,该款产品的相关色温约为3000K,显色指数Ra平均值超过93,在如此高显色性能的基础上光效接近100lm/W。
2、光参数的温度变化特性此测评项目,采用的是T3ster热瞬态测试仪配备的可控温积分球TERALED(图3)进行测试。随机抽取2颗样品,分析了光通量、相关色温、色坐标等光参数的温度变化特性,其结果如图4~图6所示。
此处测试设备能承受的最高功率为10W,故下列测试均采在270mA下进行。
图3 TERA LED
1)光通量维持率-温度变化特性(@270mA):
图4 光通量维持率-温度变化曲线(温控台温度)
2)相关色温-温度变化特性(@270mA):
图5 相关色温-温度变化特性(温控台温度)
3)色坐标-温度变化特性(@270mA):
从图4~图6结果看来,从20℃到90℃的温度变化下,光通量衰减了11%左右,衰减率约为0.16%/℃,相关色温变化在50K以内,色坐标x变化在0.001以内,色坐标y变化在0.006以内。
3、高温高湿老化老化条件为85℃&85%RH,老化过程中样品以540mA电流点亮,分别在0h、168h和336h进行光色电性能测试,其光通量维持率如图7所示。
图7 光通量维持率随老化时间的变化
可见,此款产品经过336h的85℃&85%RH通电老化后性能稳定。
4、结温热阻及降额曲线此评测项目使用热瞬态测试仪T3Ster(含高电压模块),如图8所示。
图8 热瞬态测试仪T3Ster
经测试,样品在环境温度25℃时的结温为60.8℃,器件热阻为1.1K/W。降额曲线如图9所示。
图9 最大电流在不同环境温度下的降额曲线
5、颜色空间均匀性图10所示的设备是光源近场测角光度仪SIG400,一般用于光源的近场光学分布测试,可生成面光源发光模型,用于二次光学的仿真设计。除此之外,该设备配有的ProSource软件可分析光源表面任意点在空间的光学分布。佛ft市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心,除了可为客户提供光源的近场光学分布测试,还可以利用SIG400及配有的ProSource软件对产品进行更为深入的分析。
图10 光源近场测角光度仪SIG400
此次评测,我们测试了天电1A1A产品近场光学分布,图11与图12分别为该产品正面的光强分布图与相关色温分布图。
图11 正面光强分布图
图12 正面相关色温分布图
同时,通过近场测试,还可测量得到产品的相关色温空间分布均匀性,如图13所示,该款1A1A产品的相关色温空间分布均匀性较好,集中在3050K~3150K之间。
图13 相关色温空间分布
结语从此次测试数据来看,EMC封装产品在光色参数方面,已经不输于其他封装形式,产品性能表现优越;从市场反响方面看,在一些高端品牌中,如飞利浦、欧司朗等都在不断开始使用EMC封装产品,并且在立足室内照明基础之上,不断往大功率的户外拓展。EMC封装大规模应用的唯一阻碍就是成本,随着陆系LED封装厂的积极推进,EMC扩增脚步加速,天电光电等封装厂EMC新生产线的投产,EMC封装的价格降幅可能在产能持续增加下扩大。
欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
评论列表(0条)