所有的电子产品都像这个世界一样正在不断缩小。随着电路功能和整合度的提高,PCB板的空间变得弥足珍贵。主要的板空间要分配给应用的核心功能,这些应用包括微处理器、FPGA、ASIC以及与其相关的高速数据通道和支援元件。虽然设计者并不想这样做,但是电源却必须压缩到剩下的有限空间之内。功能和密度的增加,耗电也相应增加。这为电源设计者带来了很大的挑战──即如何以更小的佔位提供更高的电源?
答案说起来非常简单:提升效率并同时提高开关频率。但实际上,这却是一个很难解决的问题,因为更高的效率和更高开关频率是互相排斥的。儘管如此,国际整流器公司(IR)IR3847大电流负载点(POL)整合稳压器的设计人员们开发出採用整合型MOSFET的DC-DC降压转换器,可在一个紧密的5×6 mm封装中(如图1),将IR第叁代SupIRBuck系列的额定电流扩展到25A。
图1: IR3847 5x6 mm QFN封装
这一解决方案拉抬了叁个领域的共同创新:IC封装、IC开关稳压器电路设计和高效MOSFET。由于最新的热增强型封装採用铜片,控制器中的创新针对大于1MHz开关频率的控制器和IR的最新一代──12.5代MOSFET,IR3847可在无散热器的情况下,在25A的电流下运作,与採用控制器和功率MOSFET的独立式解决方案相较,又将PCB的尺寸缩减了70%。利用IR3847(图2),在一个小至168mm2的面积内,现在能实现完整的25A电源解决方案。
图2:PCB面积缩减
开关频率可提高到1MHz或者更高,但仍要採用高输入电压(如12V),因而需要一款新的专利型模组架构,产生极小的导通时间脉衝。例如,将输出功率从12V转换至1V的1MHz设计,必须具有83ns的脉衝宽度,这样就可以容许极小的抖动。在这些条件下,标準的PWM机制通常会产生30~40ns的抖动,对于这些应用而言,这样的抖动时间是没有意义的。IR3847内的PWM调节电路仅产生4ns的抖动,与标準解决方案(图3)相比更缩减90%,因而实现了双赢,即将输出电压纹波降低约30%的同时,也达到了1MHz或更高的频率/更高宽度的作业,实现更小的尺寸、更好的瞬态响应,以及採用更少量的输出电容。
图3:抖动比较
新款元件整合了IR公司最新一代的功率MOSFET,从而为具有15A~25A的应用取得更佳的电子性能,其峰值效率高于96%。为了达到更好的散热性能,例如,在提供25A的电流时,温度仅仅上升50°C的低值,因而採用该公司独有的封装(图4)。同步MOSFET转换到‘源极在下’配置,同时控制MOSFET却保持着传统的‘汲极在下’配置。大多数的热量是在同步MOSFET源中产生的,并且立即传导出封装,并降至底平面,而不是像竞争解决方案一样得经过晶片,因而有助于从控制MOSFET中传热,并同时降低MOSFET间开关结点间的连接电阻。
图4: 专利型封装将热传导和电子传导最大化
作为第叁代SupIRBuck中的一员,这些元件符合工业市场中-40℃至125℃的工作结温要求。它可能针对单输入电压(5V~21V)作业进行配置,或者当提供5V的外部偏压时,将输入功率从1V转换至21V。IR3847具有后部封装高精度死区时间微调功能,将效率损耗降至最低,而且内部智慧LDO可实现整个负载範围上的效率最佳化。真正的差分远程检测对于大电流应用(图5)至关重要,在25℃至105℃的温度範围内实现0.5%的基準电压精度,输入前向和超低抖动相结合,可实现整个线压、负载和温度高于3%的整体输出电压精度。
其他先进特性还包括外部时脉同步、定序、追踪、输出电压容限、预偏压启动性能、实现输入电压感知、可调节OVP接脚和内部软启动。IR3847还具有採用专业检测接脚(VSNS)的真正的输出电压检测。因此,提供了一个强劲的解决方案,可以确保在所有条件下为输出电压进行监测,特别是出现反馈线缆断开的情况,否则,就会导致在传统竞争产品出现的严重的过压问题。
除此之外,还要关注对于佈局的简化,并使设计更加强劲以免受杂讯的干扰。例如,透过对接脚输出进行最佳化,实现对于旁通电容器实现简易的佈置,并透过叁线接脚选择电流限度,因而降低对于晶片的杂讯注入并节省了电容器,最终简化了佈局。
利用带有真正差分远程检测功能的大电流IR3847,IR解决了受到散热和空间限制的高密度和大电流应用方面的挑战。当与标準的独立式解决方案相比时,IR3847将PCB佔位空间降低了70%,仅要求具有168mm2的PCB佔位面积,以提供25A的电流并在负载端的右侧,总输出电压精度提高了3%。竞争元件一般仅具有5%或更低的精度。透过为脉衝宽度的抖动时间大幅度降低50ns,IR3847实现了更高的闭环频宽,最终实现更佳瞬态响应以及更低的输出电容。
图5:差分远端检测
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