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电子化学试剂按照纯度分为UP—S级、UP级、EL级三个等级. UP-S级:适用0.35-0.8微米集成电路加工工艺,金属杂质含量小于1ppb,经过0.05微米孔径过滤器过滤,控制0.2微米粒子,在100级净化环境中灌装达到SEMI C8标准. UP级:适用1微米集成电路及TFT-LCD制造工艺,金属杂质含量小于10ppb,经过0.2微米孔径过滤器过滤,控制0.5微米粒子,在100级净化环境中灌装,达到SEMI C7标准 EL级:金属杂质含量小于100ppb,控制1微米粒径粒子,达到SEMI C1 C2标准,适合中小规模集成电路及电子元件加工工艺EL [el] \x0d\x0aabbr. 高度(=elevation)\x0d\x0ael英音:[el]美音:[ɛl] \x0d\x0ael\x0d\x0a名词 n. \x0d\x0a\x0d\x0a1.L形的东西\x0d\x0a2.(与正房成直角的)侧房\x0d\x0a3.【口】高架铁道\x0d\x0a\x0d\x0ael.\x0d\x0a缩写词 abbr. \x0d\x0a\x0d\x0a1.=elevationPL:激发光源是激光,可以反应测试物质的内部结构,比如带隙,缺陷等 优点:对样品没损伤,可以多次测量 但是如果激光太强,还是会损坏表面结构的EL:电致发光,是靠注入电流的,测试样品的时候要加电极的,所以样品只能测试一次CL:电子激发。利用电子束激发半导体样品,将价带电子激发到导带,之后为达到能量稳定,被激发的电子又跃迁回价带,同时放出特征荧光谱,调节入射电子的能量,可以使电子进入到样品的不同深度,从而观测到样品表面以下的晶体缺陷信息。表面很容易被电子破坏。
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国产手机拍照那么强,为什么国产相机就是造不出来?
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2023-03-07
真空泵参数麻烦高手帮我看看
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2023-03-07
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