四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题？

意思就是要用欧姆表去直接测量. 欧姆表就是自身产生一个弱电流, 去测量探针两端的电压, 然后和自身的体电阻比较, 最后给出电阻值. 但是这对于半导体是不准确的, 半导体电阻无法用两根探针测量的主要原因是:

1．接触电阻的影响严重。探针与半导体接触产生一定厚度的耗尽层，耗尽层是高阻的, 另外探针和半导体之间不像与金属之间一样很好的接触, 还会产生一个额外的电阻, 称为扩展电阻，两者都是接触电阻，通常都很大. 半导体的实际电阻相对于它们越小, 测量结果就越不准确.

2．存在少子电注入.

专用方法：四探针法, 两根探针输入测量电流, 另外两根探针测量电压分布.

要是懂电流计, 电压计和电阻计的原理, 就能更明白了.

可以。四探针法粉末电阻率测试仪，可以用于对涂层，薄膜，等半导体材料方阻的测量，广泛用于锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料电阻率的测量、需要采用四探针法测量的导体或半导体粉末材料的分析与检测、石墨类粉状材料电阻率的测量，所以是可以探测粉末的，非常好用。

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