薄膜电容怎么检测好坏？

薄膜电容怎么检测好坏：

1、首先看外观，外观有问题则薄膜电容很可能有问题。

2、用万用表电阻档测试薄膜电的两脚应为非常高阻值，如果有电容表，量度电容值是否跟外壳上标记相符。

3、常温测试性能，包括容量、损耗、绝缘电阻、耐压情况、ESR等等。特别需要电容器哪方面的性能就重点测试哪方面的。

4、做模拟寿命试验。常温常态测试性能没有问题了，还要看寿命是否能持久。

5、选择有信誉的电容器生产厂家。

6、若使用要求不高可以从市场上买一些通用的，自己做一下拷机试验，通过了，就可以放心使用了。

7、薄膜电容器是以金属箔当电极，将其和聚乙酯，聚丙烯，聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜从两端重叠后卷绕成圆筒状的构造之电容器。而依塑料薄膜的种类又被分别称为聚乙酯电容，聚丙烯电容，聚苯乙烯电容和聚碳酸电容。

四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。

在此基础上发展起来的交流四探针方法，能够消除电接触区的热电势，但它对交流电流源和检测信号的交流放大器稳定性的要求极为严格，且仍存在接触稳定性问题。这些因素造成四探针法对于电阻值的微小变化不敏感，阻碍了仔细分析材料组织结构的微弱变化过程。

四探针测试技术

是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。对于厚度为W（远小于长和宽）的薄半导体片，得到电阻率为ρ=ηW(V/I)，式中η是修正系数。

特别，对于直径比探针间距大得多的薄半导体圆片，得到电阻率为ρ= (π/ln2)W(V/I)= 4.532 W(V/I) [Ω-cm]，其中W用cm作单位。

以上内容参考：百度百科-四探针测试技术

薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。很显然，倘若一批单层薄膜厚度不均匀，不但影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要。薄膜的厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。目前测量薄膜的厚度的方法有在线测厚和非在线测厚在线测厚较为常见的在线测厚技术有β射线技术，X射线技术和近红外技术。β射线技术是最先应用于在线测厚技术上的射线技术。在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。它对于测量物没有要求，但β传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可以用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。X射线技术这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量多种元素构成的聚合物，信号源发射性强。X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。近红外技术近红外技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近红外技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于红外技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。近红外技术可用于双向拉伸薄膜、流延膜和多层共挤薄膜，信号源无放射性，设备维护难度相对较低。非在线测厚非在线测厚技术主要有一触式测量法和非接触式测量法两类，接触式测量法主要是机械测量法，非接触式测量法包括光学测量法，电涡流测量法、超声波测量法等。由于非在线测厚仪设备价格便宜、体积小等原因，应用领域广阔。涡流测厚仪和磁性测厚仪涡流测厚仪和磁性测厚仪一般都是小型便携式设备，分别利用了电涡流原理和电磁感应原理。专用于各种特定涂层厚度的测量，用于测量薄膜、纸张的厚度时有出现误差的可能。超声波厚度仪超声波厚度仪也多是小型便携带设备，利用超声波反射原理，可测金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超声波良导体的厚度。可在高温下工作，这是很多其它类型的测厚仪所不具备的，但对检测试样的种类具有选择性。光学测厚仪从测量原理上来说光学测厚仪可达到极高的测试精度，但是这类测厚仪在使用及维护上要求极高；必须远离振源；严格防尘；专业 *** 作及维护等。使用范围较窄，仅适用于复合层数较少的复合膜。机械测厚仪机械测厚仪可以分为点接触式和面接触式两类，是一种接触式测厚方法，它与非接触式测量方法有着本质的区别——能够在进行厚度测量前给试样测量表面施加一定的压力（点接触力或面接触力），这样可以避免在使用非接触式测厚仪测量那些具有一定压缩力、表面高低不平的材料时可能出现数据波动较大的现象。所以具体要选择哪一类测厚仪设备还需根据软包装材料的种类，厂家对厚度均匀性的要求、以及设备的测试范围等因素而定。本答案源于PP论坛

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