半导体探针在IC测试治具中起到什么作用

IC测试探针的的设计使得其d簧空间比常规探针的要大，所以能获得更长的寿命。

2、不间断电接触设计

行程超过有效行程（2/3行程）或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗，消除因探针造成的假性开路造成的误判。

3、提高了测试精度

IC测试针因为更加精细，通常直径都是0.58mm以下，总长不超过6毫米，所以能够达到同规格产品更好的精准度。

IC测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。http://ic.big-bit.com/

tray盘还需要用魔术带捆扎的 想必是JEDEC tray了吧

Tray角方向一般都是在tray盘左上角 有个约45度的斜角，直接可以目视看到

不知道你还需要用什么额外的治具检测？

是想在自动化设备上料端加装感应sensor吗？