对于半导体检测,虽然需要用于大规模生产、实验室、晶片等环节,但相关环节也比较复杂,但电气性能测试是基本环节,半导体器件或模块在研究开发、设计和生产过程中是必不可少的环节。
在电气性能测试环节中,电流测试方案是源测量单元(SMU)。SMU是一种具有电压输出和测量以及电流输出和测量功能的精密电源仪表。这种电压和电流的控制给你提供了通过欧姆定律计算电阻和功率的灵活性,它可以同时控制和测量电压和电流,主要为消费类电子产品、IC设计和验证以及其他实验室提供电气性能测试。
目前市场上有许多(SMU)厂家可以提供源测量单元,相关产品很多,但测试仪器越贵,测试精度越高,从某种意义上说,要掌握源测量单元(SMU),就必须了解产生误差的原因和减小误差的方法。
LTX-Credence是2009年由LTX和Credence合并成立的新的ATE公司CX是主打RF领域的,目前来看是应用最广的ATE设备,如果你致力于RF领域的测试,CX是必须要会的,MX是CX的升级版本。
D-10是Credence研发的logic测试ATE,主要是针对J750的市场,目前国内J750的装机数量最多,所以如果致力于Logic测试的话,还是学习J750比较实用。
LTX-CX目前在国内主要拥有者如下:UTAC优特(上海),Ambit中山国基(现被Foxconn并购),Carsem嘉盛(苏州),Uniserm宇芯(成都),Sigurd矽格(无锡),ASEN日月鸿(苏州)
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