广东半导体高度怎么测量？

做半导体高度测量的话测量有很多限制，最好还是用专业的测量方法，用光谱测量法就是一个不错的选择，现在有很多先进的光谱测量设备，立仪科技这边提供的就有专业的光谱共焦光学测量设备，能精确的对半导体的高度进行测量，他们的设备适用领域广泛，测量的效率也挺高的，能有效的保证测量的精确度，我们企业就是用的他们这边提供的测量设备，确实更靠谱。

半导体封装设备目前比较主流的有卓兴半导体、新益昌、ASM等，其中卓兴半导体更符合问题中要求的高精度、高度度和高良率，他们总结并提出的3C固晶法则从Correction校正、Control控制和Continuity连续这三个层面改善和提高了固晶的精度、速度、良率，精度可以达到固晶位置误差＜±10um、角度误差＜0.5°，速度可以达到40K/H，良率可以达到99.99%。

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