半导体载流子迁移率测试

系统利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。FlyTOF系统是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。

特点：

专业的信号调教，电磁兼容噪声小；

软件自动控制，测试快速便捷；

快速换样装置，惰性气体氛围测试；

可实现宽温度范围的变温测试（选配）；

可灵活耦合各种类型的激发光源。

测有机半导体载流子迁移率的方法主要有如下几种:

稳态直流电流-电压特性法，飞行时间法，瞬态电致发光法，瞬态电致发光法的修正方法即双脉冲方波法和线性增压载流子瞬态法，暗注入空间电荷限制电流，场效应晶体管方法，时间分辨微波传导技术，电压调制毫米波谱，光诱导瞬态斯塔克谱方法。

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