1.1 金属 - 半导体 - 绝缘体
我们知道,自然界中的物质大致可分为气体、液体、固体、等离子体 4 种基本形态。在固体材料中,根据其导电性能的差异,又可分为金属、半导体和绝缘体。例如,铜、铝、金、银等金属;它们的导电本领都很大,是良好的导体;橡胶、塑料、电木等导电本领很小,是绝缘体;制造半导体器件的主要材料硅、锗、砷化镓等,它们的导电本领比导体小而比绝缘体大,叫做半导体。
物体导电本领的大小可用 电 阻 率 来表示。金属导体的电阻率约在 10 -4 W ·cm 以下,绝缘体的电阻率约在 10 9 W ·cm 以上,半导体的电子率是介于二者之间,约在 10 -4 ~ 10 9 W ·cm 。 图 1.1 列出这三类中一些重要材料的电阻率和 电导率 。
图 1.1
1.2 常见的半导体材料
• 元素半导体
有关半导体材料的研究开始于 19 世纪初。多年以来许多半导体已被研究过。 表 1.1 列出周期表中有关半导体元素的部分。在周期表第 IV 族中的元素如硅( Si )、锗( Ge )都是由单一原子所组成的元素半导体。在 20 世纪 50 年代初期,锗曾是最主要的半导体材料。但自 60 年代初期以来,硅已取而代之成为半导体制造的主要材料。现今我们使用硅的主要原因,乃是因为硅器件在室温下有较佳,且高品质的硅氧化层可由热生长的方式产生。经济上的考虑也是原因之一,可用于制造器件等级的硅材料,远比其他半导体材料价格低廉。在二氧化硅及硅酸盐中的硅含量占地表的 25 %,仅次于氧。到目前为止,硅可说是周期表中被研究最多且技术最成熟的半导体 元素 。
表 1.1 周期表中于半导体相关的部分
• 化合物半导体
近年来一些 化合物 半导体已被应用于各种器件中。 表 1.2 列出与两种元素半导体同样重要的化合物半导体。二元化合物半导体是由周期表中的两种元素组成。例如, III-V 族元素化合物半导体砷化镓( GaAs )是由 III 族元素镓( Ga )及 V 族元素砷( As )所组成。
除了二元化合物半导体外,三元及四元半导体化合物半导体也各有其特殊用途。由 III 族元素铝( Al )、镓( Ga )及 V 族元素砷( As )所组成的合金半导体 Al x Ga 1-x As 即是一种三元化合物半导体,而具有 A x B 1-x C y D 1-y 形式的四元化合物半导体则可由许多二元及三元化合物半导体组成。例如,合金半导体 Ga x In 1-x As y P 1-y 是由磷化镓( GaP )、磷化铟( InP )、砷化铟( InAs )及砷化镓( GaAs )所组成。与元素半导体相比,制作单晶体形式的化合物半导体通常需要较复杂的程序。
许多化合物半导体具有与硅不同的电和光的特性。这些半导体,特别是砷化镓( GaAs ),主要用于高速光电器件。虽然化合物半导体的技术不如硅半导体技术成熟,但硅半导体技术的快速发展,也同时带动化合物半导体技术的成长。
1.3 半导体导电性的特点
实际上,金属、半导体和绝缘体之间的界限并不是绝对的。通常,当半导体中的杂质含量很高时,电导率很高,呈现出一定的金属性,而纯净半导体在低温下的电导率很低,呈现出绝缘性。一般半导体和金属的区别在于半导体中存在着 禁带 而金属中不存在禁带;区分半导体和绝缘体则更加困难,通常根据它们的禁带宽度及其温度特性加以区分。
半导体的导电性究竟具有哪些特点呢?大致可归纳以下几个方面:
( 1 )半导体的电阻率对温度的反应灵敏。纯净半导体的电阻率随温度变化很显著,而且电阻率随温度升高而下降。例如纯锗,当温度从 20 o C 升高到 30 o C 时,电阻率就降低一半左右。而金属的电阻率随温度的变化比较小,而且随温度升高电阻率增大。
( 2 )微量的杂质能显著地改变半导体的电阻率。例如在纯硅中掺入 6 ′ 10 15 /cm 3 的杂质磷或锑,即在硅中掺入千万分之一的杂质,就能使它的电阻率从 2.15 ′ 10 5 W ·cm 减小到 1 W ·cm ,降低了 20 万倍。晶格结构的完整与否也会对半导体导电性能有极大的影响。因此在制作半导体器件时除人为地在半导体中掺入有用杂质来控制半导体的导电性外,还要严格防止一些有害杂质对半导体的沾污,以免改变半导体的导电性能,使生产出来的器件质量下降,甚至报废。但金属中含有少量杂质时,看不出电阻率会有什么显著的变化。
( 3 )适当的光照可使半导体的电阻率显著改变。当某种频率的光照射半导体时,会使半导体的电阻率显著下降,这种现象叫光电导。自动控制中用到的光敏电阻就是利用半导体的光电导特性来制成的。但是,金属的电阻率不受光照影响。
总之,半导体的导电性能非常灵敏地依赖于外界条件、材料的纯度以及晶体结构的完整性等。半导体的导电性能所以有上述特点是由半导体内部特殊的微观结构所决定的,后面将叙述半导体导电的内在规律。
因为在一定温度下,半导体的电子空穴对的产生和复合同时存在并达到动态平衡,此时半导体具有一定的载流子密度,从而具有一定的电阻率。温度升高时,将产生更多的电子空穴对,载流子密度增加,电阻率减小。
半导体的五大特性∶掺杂性,热敏性,光敏性,负电阻率温度特性,整流特性。在形成晶体结构的半导体中,人为地掺入特定的杂质元素,导电性能具有可控性。在光照和热辐射条件下,其导电性有明显的变化。
扩展资料
掺杂对半导体结构的影响:
1、掺杂之后的半导体能带会有所改变。依照掺杂物的不同,本质半导体的能隙之间会出现不同的能阶。施主原子会在靠近传导带的地方产生一个新的能阶,而受主原子则是在靠近价带的地方产生新的能阶。
2、掺杂物依照其带给被掺杂材料的电荷正负被区分为施主与受主。施主原子带来的价电子大多会与被掺杂的材料原子产生共价键,进而被束缚。
3、掺杂物对于能带结构的另一个重大影响是改变了费米能阶的位置。在热平衡的状态下费米能阶依然会保持定值,这个特性会引出很多其他有用的电特性。
参考资料来源:百度百科-半导体
百度百科-半导体电阻率
目前市场上贴片类NTC热敏电阻主流的结构有三种,如按出现的时间排列,也可以表述为三代产品。
第一代产品称为块状陶瓷NTC热敏电阻,结构如下图:
第一代产品为块状陶瓷结构,采用古老的陶瓷制造工艺先制成砖块大小的NTC陶瓷,然后再采用精密线切割工艺把陶瓷砖块切割成所需要的封装尺寸。 第一代产品比较适合用于制造带引脚和有组装结构的NTC产品,不太适合用于做贴片类NTC产品。
第二代产品称为多层陶瓷积层型NTC热敏电阻,结构如下图:
第二代产品结构基于MLCC的制造工艺,这种产品为多层陶瓷结构,有内电极,与MLCC的结构非常类似,也是采用先制备陶瓷薄片,然后将它们堆叠起来压制成板胚再进行烧结,最后将烧结好的NTC陶瓷板进行精密切割。
第三代产品陶瓷厚膜型NTC热敏电阻,结构如下图:
第三代NTC热敏电阻产品在结构和制造工艺上做了大幅改变,这种产品为厚膜结构,它采用了成熟的厚膜制造工艺,在陶瓷基板上印刷一层较厚(30uM)的NTC陶瓷材料,再配以特殊的电极结构,然后进行烧结而成。
欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
评论列表(0条)