半导体二极管各项参数测试原理是什么?

半导体二极管各项参数测试原理是什么?,第1张

VB即反向崩溃电压,主要测试该产品在多大电压会崩溃,主要是考虑产品可以 *** 作在多大电压或多大电流

VF即顺向电压,给一个顺向电流测起两端电压,简单的可以说是为了测试产品焊线是否正常

IR即反向电流或漏电流,给一个反向电压测其电流,漏电流应该很小才合理,一般是nA等级

TRR这个我没有用到过,不好意思

望采纳

反向恢复时间

现代脉冲电路中大量使用晶体管或二极管作为开关, 或者使用主要是由它们构成的逻辑集成电路。而作为开关应用的二极管主要是利用了它的通(电阻很小)、断(电阻很大) 特性, 即二极管对正向及反向电流表现出的开关作用。二极管和一般开关的不同在于,“开”与“关”由所加电压的极性决定, 而且“开”态有微小的压降V f,“关”态有微小的电流I 0。当电压由正向变为反向时, 电流并不立刻成为(- I 0) , 而是在一段时间ts 内, 反向电流始终很大, 二极管并不关断。经过ts后, 反向电流才逐渐变小, 再经过tf 时间, 二极管的电流才成为(- I 0) , 如图1 示。ts 称为储存时间, tf 称为下降时间。tr= ts+ tf 称为反向恢复时间, 以上过程称为反向恢复过程。

这实际上是由电荷存储效应引起的, 反向恢复时间就是存储电荷耗尽所需要的时间。该过程使二极管不能在快速连续脉冲下当做开关使用。如果反向脉冲的持续时间比tr 短, 则二极管在正、反向都可导通, 起不到开关作用。因此了解二极管反向恢复时间对正确选取管子和合理设计电路至关重要。

半导体行业中可靠性测试在SGS深圳半导体及可靠性测试实验室测。2021年12月9日,国际公认的测试、检验和认证机构SGS在深圳举行了半导体及可靠性测试实验室升级开业典礼,升级后,实验室服务领域向汽车电子产品领域延伸。SGS中国区总裁郝金玉博士向记者表示,汽车级芯片技术壁垒远高于工业和消费级,SGS将在功能安全、体系认证、器件可靠性验证等方面助力中国芯片安全“上车”。


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