有什么巧妙的实验方法测定半导体制冷片的功率？

嗯，实际上很难测量，因为受影响的因素很多。比如热密封不好，外部的热量会进入到你的冷面热面影响测量。或者热面的热扩散至冷面。

给你个不太精确的计算方法吧，测量半导体制冷片两端的电压和电流，然后算出他们的乘积，也就是半导体制冷片消耗的功率。一般的半导体制冷片在散热良好的情况下制冷量是消耗功率的30%~40%，热面的发热量就是消耗功率+制冷量。

半导体的功函数等于真空中自由电子的能量与Fermi能级之差。因此通过测量半导体热发射电流与温度的关系即可得到功函数。

禁带宽度可以有多种方法来测量，例如测量电阻率与温度的关系即可得到禁带宽度。

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