半导体二极管各项参数测试原理是什么?

半导体二极管各项参数测试原理是什么?,第1张

VB即反向崩溃电压,主要测试该产品在多大电压会崩溃,主要是考虑产品可以 *** 作在多大电压或多大电流

VF即顺向电压,给一个顺向电流测起两端电压,简单的可以说是为了测试产品焊线是否正常

IR即反向电流或漏电流,给一个反向电压测其电流,漏电流应该很小才合理,一般是nA等级

TRR这个我没有用到过,不好意思

望采纳

当你使用测二极管的档位时,万用表就工作在恒流状态(恒源电流大小与万用表型号有关,你可以用另一个万用表的mA档测测看你的是多不),极性是红表棒为正,黑为负。测二极管时,这个恒流会在二级管两端产生一个隐定的压降,万用表测量这个压降并显示来,就完成二极管的测试了。如果用二极管档测电路的导通并不合理,因为电路开路或等效阻值较大时,都会显示超量程,只有短路或等效阻值较小时才会有一个数值,原理同上。

不同厂商,不同用途的二级管,压降各不相同,比如硅管一般都在0.6V左右,但有些特殊的二极管,如快恢复二极管,压降就很低,只有0.3V左右


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