osp重要参数

1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。

技术参数：

波长范围 420nm ~ 640nm

厚度测量范围 350 ~ 3

zei小光斑尺寸 1.35, 0.135

目标面积 864X648 / 86.4X64.8

物镜转动架 5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2)

测量层 1

固定样台面积 270mm(L) X 240mm(D)

Z轴再现性 ± 1

自动Z装置 Z direction Head Movement

Travel range: 50mm

Max. velocity: 50mm/s

特征

Non-destructive OSP thickness measurement

No sample preparation for fast and easy operation

Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions

Auto-focusing function

3D contours results

主要特点：

ST4080-OSP（有机可焊性保护膜）专用于测量PCB/PW板的铜铂表面的OSP厚度。作为使用分光反射法的非破坏性光学测量仪，它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料，使得实时检测无需任何的样品制备。

由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能，适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度测量技术，而它在半导体，平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性得到了证实。

为什么要选择 ST4080-OSP?

ST4080-OSP使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。

ST4080-OSP 无需样品制备，可确保快速和简便 *** 作。

ST4080-OSP测量的光斑尺寸可减小到0.135，这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度.

ST4080-OSP 与紫外可见分光计，受迫离子束方法，时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较，它基于更可靠的测量技术。

ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。

ST4080-OSP可提供各点和它们的平均厚度的详细数据，这样可帮助人们更好地控制OSP质量。

ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序zei优化。

太多了。电镀线、沉铜线、DES线、SES线、清洗机、OSP线、沉镍金线、压机、曝光机、烤箱、AOI、板翘整平机、磨边机、开料机、真空包装机、锣机、钻机、空压机、喷锡机、CMI系列、光绘机……

还要不要我再列？

你这样问不出个名堂的。你不可能一次性买进这些全部设备。必须要确定先买哪些再买哪些，各个击破才行。毕竟世上没有任何一家公司能销售线路板生产所需的一切设备，再大的厂家也最多就是销售其中几种而已。天津众 维原画设计提供

0565引脚功能：1脚：内部MOS管漏极2脚：地3脚：电源4脚：电压反馈5脚：同步检测6脚：电源启动0565R还具有出色的浪涌特性以及各种保护功能，可确保系统的可靠性。这些保护功能包括过载保护(OLP)、过压保护(OVP)、异常过流保护(AOCP)、过温保护(TSD)、输出短路保护(OSP)及欠压锁定(UVLO)等。这些高度集成的绿色FPS器件是飞兆半导体全面广泛的绿色FPS产品系列的一部分，它们能够在LCD TV、PDP TV、DVD RW和机顶盒等应用中简化设计、提高效率和系统可靠性。

---