膜厚仪哪个品牌的最好，好在哪些地方？

菲希尔膜厚测试仪与其他四家厂商对比 目前在膜厚仪市场主要的进口品牌有：德国菲希尔（FISCHER） 日本精工（SII）英国牛津（CMI） 美国Bowaman博曼 韩国XRF2000 我们先谈谈FISCHER,目前市场占有率最高的是FISCHR，菲希尔的测量精度及稳定性是不错的，目前是科研院所，检测机构及跨国大公司的首选。因为是全进口仪器，所以硬件更换维护成本较高，但是质量稳定，故障率低。早期FISCHER的售后服务比较糟糕，近两年增加了服务人员，售后时效得到改善，用户体验也得到相应的改善。

日本精工（SII）由于仪器价格高，主要针对日资客户，所以一直没有什么市场占有率。并且维护成本也不低，因为连续亏损三年，目前已经被日立收购。目前的产品都是在上海组装，相对故障率会比以前要高一些。 牛津（CMI）是个老牌子了，在线路板行业来说。80%的客户都是用CMI了。但CMI由于5年前改为在上海组装后，故障率居高不下。新出的仪器920 仪器测量小点的数据波动性极大，数据一塌糊涂。

美国Bowaman博曼这个品牌，之前没有听说过（不知道是不是山寨产品挂美国牌子），目前在中国已开始销售，金东霖科技有限公司是全国总代理，由于配备最新的数字半导体接收器，硬件配置上有一定优势，但是目前基本没有客户使用，不知是否有人愿意做白老鼠。

韩国XRF2000主打性价比，价格比一般仪器便宜将近一半，在小电镀厂有很大的保有量，测量五金还是可以的，不过如果是电镀贵金属的话可能精度和稳定性还差一点。

在现在这个飞速发展的时代品质决定的一个企业生存的方向，如何把握品质关口。选一台好的管控设备是必要的。

如果对厚度测量的要求不是特别精确，那么台阶仪相对较高，那么就使用椭偏仪。

光学薄膜测厚仪(光谱测厚仪系列)核心技术介绍及原理讲解广州金都科恩精密仪器有限公司为您解答:光谱测厚仪系列具有非接触无损测量、无需样品预处理、软件支持Windows *** 作系统等特点，ST系列是一种使用可见光测量在晶片和玻璃等基底上形成的氧化膜、氮化膜、光刻胶和其他非金属膜厚度的仪器。测量原理如下:用可见光垂直照射待测晶片或玻璃上的薄膜。在此期间，一部分光在薄膜表面反射，另一部分光穿透到薄膜内部，然后在薄膜与底层(晶片或玻璃)的界面反射。此时，从薄膜表面反射的光和从薄膜底部反射的光发生干涉。SpectraThick系列就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。仪器的光源为钨灯，波长范围为400 nm ~ 800 nm。从ST2000到ST7000使用这个原理，测量区域的直径是4微米到40微米(2微米到20微米可选)。ST8000-Map作为K-MAC最重要的产品之一，具有图像处理功能，是超越一般膜厚测量仪极限的新概念测厚仪。被测区域的最小直径为0.2μm，远远超过一般测厚仪的测量极限(4μm)。只有依次测量几十个点才能得到的厚度图，也可以一次测量得到，大大提高了速度和精度。这项技术已经获得专利。韩国K-MAC SpectraThick系列的另一个优点是在一般仪器无法测量的粗糙表面(如铁板、铜板)上形成的膜厚也可以测量。这是一种叫做视觉厚度的新概念的测量原理。除了测量薄膜厚度之外，它还具有测量透射率、在玻璃上形成的ITO薄膜的表面电阻、接触角等功能。目前国内外半导体行业和光刻胶行业很多知名企业都选择了K-MAC膜厚仪。广州金都科恩精密仪器有限公司是中国的总代理，您可以通过访问企业网站了解更多关于不同应用仪器的信息。。产品说明:本仪器是将紫外-可见光照射在被测物体上，利用被测物体反射的光来测量薄膜厚度的产品。本产品主要用于导电膜领域的研发或生产，特别是作为半导体在线监测仪器及相关显示工作。产品特点1)由于使用的是光，所以是非接触、非破坏性的，不会影响实验样品。2)可以获得薄膜的厚度和n、k数据。3)测量快速准确，不需要对测量用实验样品进行破坏或处理。4)可以测量3层以内的多层膜。5)可根据应用自由选择手动或自动类型。6)产品风格多样，也可根据客户要求设计产品。7)晶圆/LCD(载物台尺寸3”)上可测量的薄膜厚度8)桌面型，适用于大学、研究实验室等。

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