DR: dram
FL: flash
MD: microdisplay
CIS: cmos image sensor
NROM: flash项目的一个代号
EE: EEPROM
HV: high voltage
SOC: system on chip
你是中心的吧?
一般来说宽度的大小能够决定本征载流子的浓度,从而决定了电阻率,也就是导电能力强弱wuxm0618(站内联系TA)只能说明本征材料的导电能力很弱,在有杂质或者缺陷的情况下可能还是有好的导电性能。混沌学徒(站内联系TA)带隙越窄越接近金属吧,越宽就越接近绝缘体回归2011(站内联系TA)紫外漫反射边通过F(R)hv2对hv作图,通过紫外可以测试半导体的带隙,这种称之为光学带隙,一般论文里都是这样做的。而氧化铜确实是一种半导体薄膜。氧化亚铜也是。均可以作为薄膜太阳能电池材料,尽管效率比较低。欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
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