偏置温度不稳定性的改进

偏置温度不稳定性的改进,第1张

金属氧化物半导体(mos)结构——例如场效应晶体管(fet)和电容器——例如用于标准cmos(互补金属氧化物半导体)技术中的那些,其电学特性表现出不令人满意的偏置温度不稳定性(bti)。这可归因于在介质堆叠中存在电活性缺陷,这可捕获/解除捕获沟道载流子,并且影响装置静电学和沟道中的载流子运输,从而引起性能劣化。例如,已知空穴阱的存在在天然sio2中引起了nbti(负bti);天然sio2在互补高k金属栅极(hkmg)技术中也用作界面层。在商业技术中,通过下式方式来最大程度地减小空穴密度:(1)在高温下形成层(例如,在900+℃下迅速热氧化),或者(2)将sio2层暴露于1000+℃时的源极/漏极掺杂活化退火,或者(3)在介质堆叠沉积后,在称为“可靠性退火”中应用迅速热退火(例如》800℃持续1-2s),即使是在替换金属栅极(rmg)工艺流程中。相较之下,franco等人(2018)已经证明,省略可靠性退火导致rmg hkmg堆叠具有极差的nbti可靠性(图1再现了结果)和pbti(正bti)可靠性[franco,j.,等人,bti reliability improvement strategies in low thermal budget gate stacks for 3d sequential integration(用于3d循序集成的低热预算栅极堆叠的bti可靠性改进策略),2018ieee international electron devices meeting(国际电子设备会议,iedm).ieee,2018.第34.2.1-34.2.4.页];由此证明栅极堆叠可靠性对制造温度的极端敏感性。

[0003]

然而,先进技术中的热预算限制阻碍了使用高温制造步骤。例如,已经证明,在3d循序集成流程中堆叠多个半导体装置层是不断增加每芯片面积的cmos功能性的具有前途的方法。然而,为了维持较低层的功能性,可用减小的热预算来形成较高层。因此,在这种情况下,需要不同的方法来改进bti。

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直击前线科研动态

尽在 芯片揭秘 科研前线

在第27届 IEEE IPCF 会议上,IMEC发表了与欧洲名校KU Leuven和TU Wien的联合研究成果,其团队拓展了HCD(热载流子退化)效应的研究模型,综合考虑了HCD效应与自热效应两种现象之间的关联和相互影响,并在对纳米线晶体管的实测中获得了验证。

在先进集成电路器件中,器件尺寸的缩小幅度大于工作电压和偏置应力电压的减小幅度,从而造成高电场;除此之外,晶体管的通道长度与载流子的平均自由程相当或更短,载流子因散射耗散的能量随之大减。综上因素因素会导致载流子的大幅加速,进而导致显著的 热载流子退化* (Hot-carrier degradation,以下简称HCD)。在 纳米线(Nanowire) 晶体管器件和FinFET等10nm和亚10nm尺寸的集成电路器件中,HCD效应因自热效应(Self-Heating Effect)而进一步加剧,被认为是最为损害器件可靠性的问题。

而与HCD密切相关的 偏置温度不稳定性 (Bias Temperature Instability,以下简称BTI)现象,在晶体管中相比HCD破坏性要小。在近年的研究中,控制和缓解BTI的技术手段被提出并得到了验证,这些工作大多基于两点,一是通过 调整功函数 将缺陷带转移到载流子无法达到的能量区域,二是在 SiO层 high-k 层之间引入偶极子。然而,到目前为止,尚无能有效减缓HCD效应的手段,更好地了解导致HCD的物理机制将有助于 探索 减缓HCD效应的手段。

自热增强了HCD效应,一个精确的HCD预测模型应该考虑自热效应的影响,但目前模拟自热对HCD影响的模型都基于实验经验和孤立猜想和假设,存在片面性。为加深对HCD诱发机制的理解,建立更接近电路实际工作条件的研究模型, IMEC 鲁汶大学 KU Leuven )和 维也纳工业大学 TU Wien )联合实验团队提出并验证了新的物理模型。相关成果以“ Physical Modeling the Impact of Self-Heating on Hot-Carrier Degradation in pNWFETs ”为题发表于2020年举办的第27届IEEE国际集成电路物理与失效分析会议(IPFA, International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits),来自IMEC及两所欧洲名校的Stanislav Tyaginov, Alexander Makarov等10名研究成员为本文共同作者,项目受到“ 欧盟地平线2020 ”科研规划下的“ 玛丽居里学者 ”项目资助。

*热载流子退化 :Hot-carrier degradation,也称热载流子降解,指器件内部的部分载流子受外部影响成为高能热载流子。这些热载流子会打断Si-H 键从而产生界面态,最终导致载流子平均自由时间减少,降低电子迁移率,从而使器件的源漏电流减小。器件关键电学特性的退化随着工作时间的增长而越来越明显,当退化量大于一定程度时便会引起器件乃至整个芯片的失效,带来严重的可靠性问题。

pNWFETs :p型纳米线(nanowire)场效应晶体管,GAA环栅晶体管器件结构的一种。

研究团队提出并验证了一个基于物理学基本原理的自热与热载流子退化(HCD)的建模框架。研究表明,自热对HCD的影响因素是多方面叠加的:一是分布式温度下载流子输运特性,二是温度对化学键振动寿命的依赖关系,三是键解离的热贡献。为了求解自热效应引起的晶格温度变化,团队综合求解了漂移-扩散方程和热流两公式;而温度的非均匀分布对载流子输运的影响表明了使载流子能量分布函数趋向高能量区。本研究团队所扩展得到的框架能够精确再现实验环境下pNWFETs的热载流子退化过程,同时也发现,如果忽视自热效应的影响,那么模型计算所得的HCD效应的严重程度将会大大低于实际观测值。

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*Minimos-NT ,是一款通用型半导体器件模拟软件,可提供任意二维和三维器件几何形状的稳态、瞬态和小信号分析。该软件由维也纳工业大学微电子研究所自主研发,用于集成电路器件的物理特性研究。

IMEC与知名高校KU Leuven和TU Wien通过建立创新物理模型,深入研究纳米线晶体管的自热效应与热载流子退化物理机制间的联系,Nanowire晶体管即将进入量产阶段,预计该成果将会对于未来纳米线晶体管的良率与器件可靠性提升有重要意义,基于该成果的拓展性研发也将会惠及未来Nanosheet和Forksheet器件的工艺研发。

团队带头人Stanislav Tyaginov博士出生于俄罗斯圣彼得堡,于2006年获物理学博士学位,IIRW和IRPS的技术计划委员会成员。他曾主导建设TU Wien微电子研究所的HCD模型开发小组,在科学期刊和会议论文集上发表论文100余篇。目前Tyaginov博士的研究领域包括:晶体管物理模型仿真、基于Si和碳化硅晶体管中的HCD效应研究、BTI和经时击穿的建模以及MOS器件中的隧穿现象。

IMEC,全称:Interuniversity Microelectronics Centre,即比利时微电子研究中心,是一家成立于 1984 年的 科技 研发中心, 总部设在比利时鲁汶。IMEC 的战略定位为纳米电子和数字技术领域全球领先的前瞻性重大创新中心,IMEC 从 2004 年起参与了从45nm到7nm的芯片前沿技术的研发。

维也纳工业大学(TU Wien),前身是维也纳帝国皇家理工学院,是一所作为奥匈帝国皇家学院的 科技 学院建立起来的综合性大学,是德语国家中的第一所 科技 型学府大学。在教学领域和研究领域都得到国际和国内的认可,是欧洲顶尖学府之一。

鲁汶大学(KU Leuven),是比利时最高学府、世界百强名校、欧洲十大名校之一,集成电路相关学科在欧洲名列前茅,与同在比利时的IMEC在集成电路技术研发方面有着深入、全面的合作。

论文原文链接:

https://ieeexplore.ieee.org/document/9260648

从PC100标准开始内存条上带有SPD芯片,SPD芯片是内存条正面右侧的一块8管脚小芯片,里面保存着内存条的速度、工作频率、容量、工作电压、CAS、tRCD、tRP、tAC、SPD版本等信息。当开机时,支持SPD功能的主板BIOS就会读取SPD中的信息,按照读取的值来设置内存的存取时间。我们可以借助SPDinfo这类工具软件来查看SPD芯片中的信息,例如软件中显示的SDRAM PC133U-333-542就表示被测内存的技术规范。内存技术规范统一的标注格式,一般为PCx-xxx-xxx,但是不同的内存规范,其格式也有所不同。

1、PC66/100 SDRAM内存标注格式

(1)1.0---1.2版本

这类版本内存标注格式为:PCa-bcd-efgh,例如PC100-322-622R,其中a表示标准工作频率,用MHZ表示(如66MHZ、100MHZ、133MHZ等);b表示最小的CL(即CAS纵列存取等待时间),用时钟周期数表示,一般为2或3;c表示最少的Trcd(RAS相对CAS的延时),用时钟周期数表示,一般为2;d表示TRP(RAS的预充电时间),用时钟周期数表示,一般为2;e表示最大的tAC(相对于时钟下沿的数据读取时间),一般为6(ns)或6.5,越短越好;f表示SPD版本号,所有的PC100内存条上都有EEPROM,用来记录此内存条的相关信息,符合Intel PC100规范的为1.2版本以上;g代表修订版本;h代表模块类型;R代表DIMM已注册,256MB以上的内存必须经过注册。

(2)1.2b+版本

其格式为:PCa-bcd-eeffghR,例如PC100-322-54122R,其中a表示标准工作频率,用MHZ表示;b表示最小的CL(即CAS纵列存取等待时间),用时钟周期数表示,一般为2或3;c表示最少的Trcd(RAS相对CAS的延时),用时钟周期数表示;d表示TRP(RAS的预充电时间),用时钟周期数表示;ee代表相对于时钟下沿的数据读取时间,表达时不带小数点,如54代表5.4ns tAC;ff代表SPD版本,如12代表SPD版本为1.2;g代表修订版本,如2代表修订版本为1.2;h代表模块类型;R代表DIMM已注册,256MB以上的内存必须经过注册。

2、PC133 SDRAM(版本为2.0)内存标注格式

威盛和英特尔都提出了PC133 SDRAM标准,威盛力推的PC133规范是PC133 CAS=3,延用了PC100的大部分规范,例如168线的SDRAM、3.3V的工作电压以及SPD;英特尔的PC133规范要严格一些,是PC133 CAS=2,要求内存芯片至少7.5ns,在133MHz时最好能达到CAS=2。

PC133 SDRAM标注格式为:PCab-cde-ffg,例如PC133U-333-542,其中a表示标准工作频率,单位MHZ;b代表模块类型(R代表DIMM已注册,U代表DIMM不含缓冲区;c表示最小的CL(即CAS的延迟时间),用时钟周期数表示,一般为2或3;d表示RAS相对CAS的延时,用时钟周期数表示;e表示RAS预充电时间,用时钟周期数表示;ff代表相对于时钟下沿的数据读取时间,表达时不带小数点,如54代表5.4ns tAC;g代表SPD版本,如2代表SPD版本为2.0。

3、PC1600/2100 DDR SDRAM(版本为1.0)内存标注格式

其格式为:PCab-ccde-ffg,例如PC2100R-2533-750,其中a表示内存带宽,单位为MB/s;a*1/16=内存的标准工作频率,例如2100代表内存带宽为2100MB/s,对应的标准工作频率为2100*1/16=133MHZ;b代表模块类型(R代表DIMM已注册,U代表DIMM不含缓冲区;cc表示CAS延迟时间,用时钟周期数表示,表达时不带小数点,如25代表CL=2.5;d表示RAS相对CAS的延时,用时钟周期数表示;e表示RAS预充电时间,用时钟周期数表示;ff代表相对于时钟下沿的数据读取时间,表达时不带小数点,如75代表7.5ns tAC;g代表SPD版本,如0代表SPD版本为1.0。

4、RDRAM 内存标注格式

其格式为:aMB/b c d PCe,例如256MB/16 ECC PC800,其中a表示内存容量;b代表内存条上的内存颗粒数量;c代表内存支持ECC;d保留;e代表内存的数据传输率,e*1/2=内存的标准工作频率,例如800代表内存的数据传输率为800Mt/s,对应的标准工作频率为800*1/2=400MHZ。

5、各厂商内存芯片编号

内存打假的方法除了识别内存标注格式外,还可以利用刻在内存芯片上的编号。内存条上一般有多颗内存芯片,内存芯片因为生产厂家的不同,其上的编号也有所不同。

由于韩国HY和SEC占据了世界内存产量的多半份额,它们产的内存芯片质量稳定,价格不高,另外市面上还流行LGS、Kingmax、金邦金条等内存,因此我们就先来看看它们的内存芯片编号。

(1)HYUNDAI(现代)

现代的SDRAM内存兼容性非常好,支持DIMM的主板一般都可以顺利的使用它,其SDRAM芯片编号格式为:HY 5a b cde fg h i j k lm-no

其中HY代表现代的产品;5a表示芯片类型(57=SDRAM,5D=DDR SDRAM);b代表工作电压(空白=5V,V=3.3V,U=2.5V);cde代表容量和刷新速度(16=16Mbits、4K Ref,64=64Mbits、8K Ref,65=64Mbits、4K Ref,128=128Mbits、8K Ref,129=128Mbits、4K Ref,256=256Mbits、16K Ref,257=256Mbits、8K Ref);fg代表芯片输出的数据位宽(40、80、16、32分别代表4位、8位、16位和32位);h代表内存芯片内部由几个Bank组成(1、2、3分别代表2个、4个和8个Bank,是2的幂次关系);I代表接口(0=LVTTL〔Low Voltage TTL〕接口);j代表内核版本(可以为空白或A、B、C、D等字母,越往后代表内核越新);k代表功耗(L=低功耗芯片,空白=普通芯片);lm代表封装形式(JC=400mil SOJ,TC=400mil TSOP-Ⅱ,TD=13mm TSOP-Ⅱ,TG=16mm TSOP-Ⅱ);no代表速度(7=7ns〔143MHz〕,8=8ns〔125MHz〕,10p=10ns〔PC-100 CL2或3〕,10s=10ns〔PC-100 CL3〕,10=10ns〔100MHz〕,12=12ns〔83MHz〕,15=5ns〔66MHz〕)。

例如HY57V658010CTC-10s,HY表示现代的芯片,57代表SDRAM,65是64Mbit和4K refresh cycles/64ms,8是8位输出,10是2个Bank,C是第4个版本的内核,TC是400mil TSOP-Ⅱ封装,10S代表CL=3的PC-100。

市面上HY常见的编号还有HY57V65XXXXXTCXX、HY57V651XXXXXATC10,其中ATC10编号的SDRAM上133MHz相当困难;编号ATC8的可超到124MHz,但上133MHz也不行;编号BTC或-7、-10p的SDRAM上133MHz很稳定。一般来讲,编号最后两位是7K的代表该内存外频是PC100,75的是PC133的,但现代内存目前尾号为75的早已停产,改换为T-H这样的尾号,可市场上PC133的现代内存尾号为75的还有很多,这可能是以前的屯货,但可能性很小,假货的可能性较大,所以最好购买T-H尾号的PC133现代内存。

(2)LGS〔LG Semicon〕

LGs如今已被HY兼并,市面上LGs的内存芯片也很常见。LGS SDRAM内存芯片编号格式为:GM72V ab cd e 1 f g T hi

其中GM代表LGS的产品;72代表SDRAM;ab代表容量(16=16Mbits,66=64Mbits);cd表示数据位宽(一般为4、8、16等);e代表Bank(2=2个Bank,4=4个Bank);f表示内核版本,至少已排到E;g代表功耗(L=低功耗,空白=普通);T代表封装(T=常见的TSOPⅡ封装,I=BLP封装);hi代表速度(7.5=7.5ns〔133MHz〕,8=8ns〔125MHz〕,7K=10ns〔PC-100 CL2或3〕,7J=10ns〔100MHz〕,10K=10ns〔100MHz〕,12=12ns〔83MHz〕,15=15ns〔66MHz〕)。

例如GM72V661641CT7K,表示LGs SDRAM,64Mbit,16位输出,4个Bank,7K速度即PC-100、CL=3。

LGS编号后缀中,7.5是PC133内存;8是真正的8ns PC 100内存,速度快于7K/7J;7K和7J属于PC 100的SDRAM,两者主要区别是第三个反应速度的参数上,7K比7J的要快,上133MHz时7K比7J更稳定;10K属于非PC100规格的,速度极慢,由于与7J/7K外型相似,不少奸商把它们冒充7J/7K的来卖。

(3)Kingmax(胜创)

Kingmax的内存采用先进的TinyBGA封装方式,而一般SDRAM内存都采用TSOP封装。采用TinyBGA封装的内存,其大小是TSOP封装内存的三分之一,在同等空间下TinyBGA封装可以将存储容量提高三倍,而且体积要小、更薄,其金属基板到散热体的最有效散热路径仅有0.36mm,线路阻抗也小,因此具有良好的超频性能和稳定性,不过Kingmax内存与主板芯片组的兼容性不太好,例如Kingmax PC150内存在某些KT133主板上竟然无法开机。

Kingmax SDRAM内存目前有PC150、PC133、PC100三种。其中PC150内存(下图)实际上是能上150外频且能稳定在CL=3(有些能上CL=2)的极品PC133内存条,该类型内存的REV1.2版本主要解决了与VIA 694X芯片组主板兼容问题,因此要好于REV1.1版本。购买Kingmax内存时,你要注意别买了打磨条,市面上JS常把原本是8ns的Kingmax PC100内存打磨成7ns的PC133或PC150内存,所以你最好用SISOFT SANDRA2001等软件测试一下内存的速度,注意观察内存上字迹是否清晰,是否有规则的刮痕,芯片表面是否发白等,看看芯片上的编号。

KINGMAX PC150内存采用了6纳秒的颗粒,这使它的速度得到了很大程度的提升,即使你用它工作在PC133,其速度也会比一般的PC133内存来的快;Kingmax的PC133内存芯片是-7的,例如编号KSV884T4A1A-07;而PC100内存芯片有两种情况:部分是-8的(例如编号KSV884T4A0-08),部分是-7的(例如编号KSV884T4A0-07)。其中KINGMAX PC133与PC100的区别在于:PC100的内存有相当一部分可以超频到133,但不是全部;而PC133的内存却可以保证100%稳定工作在PC133外频下(CL=2)。

(4)Geil(金邦、原樵风金条)

金邦金条分为'金、红、绿、银、蓝'五种内存条,各种金邦金条的SPD均是确定的,对应不同的主板。其中红色金条是PC133内存;金色金条P针对PC133服务器系统,适合双处理器主板;绿色金条是PC100内存;蓝A色金条针对AMD750/760 K7系主板,面向超频玩家;蓝V色金条针对KX133主板;蓝T色金条针对KT-133主板;银色金条是面向笔记本电脑的PC133内存。

金邦内存芯片编号例如GL2000 GP 6 LC 16M8 4 TG -7 AMIR 00 32

其中GL2000代表芯片类型(GL2000=千禧条TSOPs即小型薄型封装,金SDRAM=BLP);GP代表金邦科技的产品;6代表产品家族(6=SDRAM);LC代表处理工艺(C=5V Vcc CMOS,LC=0.2微米3.3V Vdd CMOS,V=2.5V Vdd CMOS);16M8是设备号码(深度*宽度,内存芯片容量 = 内存基粒容量 * 基粒数目 = 16 * 8 = 128Mbit,其中16 = 内存基粒容量;8 = 基粒数目;M = 容量单位,无字母=Bits,K=KB,M=MB,G=GB);4表示版本;TG是封装代码(DJ=SOJ,DW=宽型SOJ,F=54针4行FBGA,FB=60针8*16 FBGA,FC=60针11*13

FBGA,FP=反转芯片封装,FQ=反转芯片密封,F1=62针2行FBGA,F2=84针2行FBGA,LF=90针FBGA,LG=TQFP,R1=62针2行微型FBGA,R2=84针2行微型FBGA,TG=TSOP(第二代),U=μ BGA);-7是存取时间(7=7ns(143MHz));AMIR是内部标识号。以上编号表示金邦千禧条,128MB,TSOP(第二代)封装,0.2微米3.3V

Vdd CMOS制造工艺,7ns、143MHz速度。

(5)SEC(Samsung Electronics,三星

三星EDO DRAM内存芯片编号例如KM416C254D表示:KM表示三星内存;4代表RAM种类(4=DRAM);16代表内存芯片组成x16(1=x1[以1的倍数为单位]、4=x4、8=x8、16=x16);C代表电压(C=5V、V=3.3V);254代表内存密度256Kbit(256[254] = 256Kx、512(514) = 512Kx、1 = 1Mx、4 = 4Mx、8 = 8Mx、16 = 16Mx);D代表内存版本(空白=第1代、A=第2代、B=第3代、C=第4代、D=第5代)即三星256Kbit*16=4Mb内存。

三星SDRAM内存芯片编号例如KM416S16230A-G10表示:KM表示三星内存;4代表RAM种类(4=DRAM);16代表内存芯片组成x16(4 = x4、8 = x8、16 = x16);S代表SDRAM;16代表内存芯片密度16Mbit(1 = 1M、2 = 2M、4 = 4M、8 = 8M、16 = 16M);2代表刷新(0 = 4K、1 = 2K、2 = 8K);3表示内存排数(2=2排、3=4排);0代表内存接口(0=LVTTL、1=SSTL);A代表内存版本(空白=第1代、A=第2代、B=第3代);G代表电源供应(G=自动刷新、F=低电压自动刷新);10代表最高频率(7 = 7ns[143MHz]、8 = 8ns[125 MHz]、10 = 10ns[100 MHz]、H = 100 MHz @ CAS值为2、L = 100 MHz @ CAS值为3 )。三星的容量需要自己计算一下,方法是用'S'后的数字乘S前的数字,得到的结果即为容量,即三星16M*16=256Mbit SDRAM内存芯片,刷新为8K,内存Banks为3,内存接口LVTTL,第2代内存,自动刷新,速度是10ns(100 MHz)。

三星PC133标准SDRAM内存芯片格式如下:

Unbuffered型:KMM3 xx s xxxx BT/BTS/ATS-GA

Registered型:KMM3 90 s xxxx BTI/ATI-GA

三星DDR同步DRAM内存芯片编号例如KM416H4030T表示:KM表示三星内存;4代表RAM种类(4=DRAM);16表示内存芯片组成x16(4=x4、8=x8、16=x16、32=x32);H代表内存电压(H=DDR SDRAM[3.3V]、L=DDR SDRAM[2.5V]);4代表内存密度4Mbit(4 =4M、8 = 8M、16 = 16M、32 = 32M、64 = 64M、12 = 128M、25 = 256M、51 = 512M、1G = 1G、2G = 2G、4G = 4G);0代表刷新(0 = 64m/4K [15.6μs]、1 = 32m/2K [15.6μs]、2 = 128m/8K[15.6μs]、3 = 64m/8K[7.8μs]、4 = 128m/16K[7.8μs]);3表示内存排数(3=4排、4=8排);0代表接口电压(0=混合接口LVTTL+SSTL_3(3.3V)、1=SSTL_2(2.5V));T表示封装类型(T=66针TSOP Ⅱ、B=BGA、C=微型BGA(CSP));Z代表速度133MHz(5 = 5ns, 200MHz (400Mbps)、6 = 6ns, 166MHz (333Mbps)、Y = 6.7ns, 150MHz (300Mbps)、Z = 7.5ns, 133MHz (266Mbps)、8 = 8ns, 125MHz (250Mbps)、0 = 10ns, 100MHz (200Mbps))。即三星4Mbit*16=64Mbit内存芯片,3.3V DDR SDRAM,刷新时间0 = 64m/4K (15.6μs),内存芯片排数为4排(两面各两排),接口电压LVTTL+SSTL_3(3.3V),封装类型66针TSOP

Ⅱ,速度133MHZ。

三星RAMBUS DRAM内存芯片编号例如KM418RD8C表示:KM表示三星内存;4代表RAM种类(4=DRAM);18代表内存芯片组成x18(16 = x16、18 = x18);RD表示产品类型(RD=Direct RAMBUS DRAM);8代表内存芯片密度8M(4 = 4M、8 = 8M、16 = 16M);C代表封装类型(C = 微型BGA、D =微型BGA [逆转CSP]、W = WL-CSP);80代表速度(60 = 600Mbps、80 = 800Mbps)。即三星8M*18bit=144M,BGA封装,速度800Mbps。

(6)Micron(美光)

Micron公司是世界上知名内存生产商之一(如右图Micron PC143 SDRAM内存条),其SDRAM芯片编号格式为:MT48 ab cdMef Ag TG-hi j

其中MT代表Micron的产品;48代表产品家族(48=SDRAM、4=DRAM、46=DDR SDRAM、6=Rambus);ab代表处理工艺(C=5V Vcc CMOS,LC=3.3V Vdd CMOS,V=2.5V Vdd CMOS);cdMef设备号码(深度*宽度),无字母=Bits,K=Kilobits(KB),M=Megabits(MB),G=Gigabits(GB)Mricron的容量=cd*ef;ef表示数据位宽(4、8、16、32分别代表4位、8位、16位和32位);Ag代表Write Recovery〔Twr〕(A2=Twr=2clk);TG代表封装(TG=TSOPⅡ封装,DJ=SOJ,DW=宽型SOJ,F=54针4行FBGA,FB=60针8*16 FBGA,FC=60针11*13 FBGA,FP=反转芯片封装,FQ=反转芯片密封,F1=62针2行FBGA,F2=84针2行FBGA,LF=90针FBGA,LG=TQFP,R1=62针2行微型FBGA,R2=84针2行微型FBGA,U=μ BGA);j代表功耗(L=低耗,空白=普通);hj代表速度,分成以下四类:

(A)DRAM

-4=40ns,-5=50ns,-6=60ns,-7=70ns

SDRAM,x32 DDR SDRAM(时钟率 @ CL3)

-15=66MHz,-12=83MHz,-10+=100MHz,-8x+=125MHz,-75+=133MHz,-7x+=143MHz,- 65=150MHz,-6=167MHz,-55=183MHz,-5=200MHz

DDR SDRAM(x4,x8,x16)时钟率 @ CL=2.5

-8+=125MHz,-75+=133MHz,-7+=143MHz

(B)Rambus(时钟率)

-4D=400MHz 40ns,-4C=400MHz 45ns,-4B=400MHz 50ns,-3C=356MHz 45ns,-3B=356MHz 50ns,-3M=300MHz 53ns

+的含义

-8E支持PC66和PC100(CL2和CL3)

-75支持PC66、PC100(CL2和CL3)、PC133(CL=3)

-7支持PC66、PC100(CL2和CL3)、PC133(CL2和CL3)

-7E支持PC66、PC100(CL2和CL3)、PC133(CL2+和CL3)

(C)DDR SDRAM

-8支持PC200(CL2)

-75支持PC200(CL2)和PC266B(CL=2.5)

-7支持PC200(CL2),PC266B(CL2),PC266A(CL=2.5)。

例如MT 48 LC 16M8 A2 TG -75 L _ ES表示美光的SDRAM,16M8=16*8MB=128MB,133MHz

(7)其它内存芯片编号

NEC的内存芯片编号例如μPD4564841G5-A80-9JF表示:μPD4代表NEC的产品;5代表SDRAM;64代表容量64MB;8表示数据位宽(4、8、16、32分别代表4位、8位、16位、32位,当数据位宽为16位和32位时,使用两位);4代表Bank数(3或4代表4个Bank,在16位和32位时代表2个Bank;2代表2个Bank);1代表LVTTL(如为16位和32位的芯片,则为两位,第2位双重含义,如1代表2个Bank和LVTTL,3代表4个Bank和LVTTL);G5为TSOPⅡ封装;-A80代表速度:在CL=3时可工作在125MHZ下,在100MHZ时CL可设为2(80=8ns〔125MHz CL 3〕,10=10ns〔PC100 CL 3〕,10B=10ns较10慢,Tac为7,不完全符合PC100规范,12=12ns,70=[PC133],75=[PC133]);JF代表封装外型(NF=44-pinTSOP-Ⅱ;JF=54-pin TSOPⅡ;JH=86-pin TSOP-Ⅱ)。

HITACHI的内存芯片编号例如HM5264805F -B60表示:HM代表日立的产品;52是SDRAM类型(51=EDO DRAM,52=SDRAM);64代表容量64MB;80表示数据位宽(40、80、16分别代表4位、8位、16位);5F表示是第几个版本的内核(现在至少已排到'F'了);空白表示功耗(L=低功耗,空白=普通);TT为TSOⅡ封装;B60代表速度(75=7.5ns〔133MHz〕,80=8ns〔125MHz〕,A60=10ns〔PC-100 CL2或3〕,B60=10ns〔PC-100 CL3〕即100MHZ时CL是3)。

SIEMENS(西门子)内存芯片编号格式为:HYB39S ab cd0 e T f -gh 其中ab为容量,gh是速度(6=166MHz,7=143MHz,7.5=133MHz,8=125MHz,8B=100MHz〔CL3〕,10=100MHz〔PC66规格〕)。

TOSHIBA的内存芯片编号例如TC59S6408BFTL-80表示:TC代表是东芝的产品;59代表SDRAM(其后的S=普通SDRAM,R=Rambus SDRAM,W=DDR SDRAM);64代表容量(64=64Mb,M7=128Mb);08表示数据位宽(04、08、16、32分别代表4位、8位、16位和32位);B表示内核的版本;FT为TSOPⅡ封装(FT后如有字母L=低功耗,空白=普通);80代表速度(75=7.5ns〔133MHz〕,80=8ns〔125MHz〕,10=10ns〔100MHz CL=3〕)。

IBM的内存芯片编号例如IBM0316809CT3D-10,其中IBM代表IBM的产品;03代表SDRAM;16代表容量16MB;80表示数据位宽(40、80、16分别代表4、8、16位);C代表功耗(P=低功耗,C=普通);D表示内核的版本;10代表速度(68=6.8ns〔147MHz〕,75A=7.5NS〔133MHz〕, 260或222=10ns〔PC100 CL2或3〕,360或322=10ns〔PC100 CL3〕,B版的64Mbit芯片中,260和360在CL=3时的标定速度为:135MHZ,10=10NS〔100MHz〕。


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