通信中DUT是什么设备

被测器件（DUT），也称为被测设备（EUT）和被测单元（UUT），是在首次制造时或在其生命周期后期进行测试的制造产品，作为正在进行的功能测试和校准的一部分检查。这可以包括修复后的测试，以确定产品是否按照原始产品规格执行。

在半导体测试中，DUT表示晶圆或最终封装部件上的特定管芯小片。利用连接系统将封装部件连接到手动或自动测试设备（ATE），ATE会为其施加电源，提供模拟信号，然后测量和估计器件得到的输出，以这种方式测定特定被测器件的好坏。

扩展资料

更多的情况下，DUT用于表示任何被测电子装置。例如，装配线下线的手机中的每一芯片都会被测试，而手机整机会以同样的方式进行最终的测试，这里的每一部手机都可以被称作DUT。DUT常以测试针组成的针床测试台连接到ATE。

测试原则

对计算机软件进行测试前，首先需遵循软件测试原则，即不完全原则的遵守。不完全原则即为若测试不完全、测试过程中涉及免疫性原则的部分较多，可对软件测试起到一定帮助。

因软件测试因此类因素具有一定程度的免疫性，测试人员能够完成的测试内容与其免疫性成正比，若想使软件测试更为流畅、测试效果更为有效，首先需遵循此类原则，将此类原则贯穿整个开发流程，不断进行测试，而并非一次性全程测试。

参考资料来源：百度百科-软件测试

参考资料来源：百度百科-被测器件

半导体高压脉冲测试机原理是依据标准根据客户要求定制，考察被测产品在瞬间高压脉冲放电时的寿命。同时配有辅助的指针表指示电压，以便在设备断电时检查是否放电完成。脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。

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