抗干扰介损测试仪的原理

抗干扰介损测试仪的原理,第1张

抗干扰介损测试仪的工作原理:

在交流电压作用下,电介质要消耗部分电能,这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时,电介质中的电压和电流间成在相角差ψ,ψ的余角δ称为介质损耗角,δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路(Cn)和一被试回路(Cx),如图2—1所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成,被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位差,再由数字信号处理器运用数字化实时采集方法,通过矢量运算得出试品的电容值和介质损耗正切值。

介质损耗测试仪也称为抗干扰介质损耗测试仪,采用变频电源技术,利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算,自动化,智能化,测量数据在强干扰条件下是稳定的,但测试数据在使用中显然是不合理的通常如下。

在现场测试时,用钩杆对产品进行检测时,吊钩必须与试验产品良好接触,否则接触件的排放会引起严重的数据波动,特别是在过厚的氧化层或空气管摆动的排水管中导致接触不良。

接地不良也会引起仪表保护数据的严重波动,接地点的涂层应报废,零电阻接地。

用端盖法测量电磁式PT时,由水分引起的T形网络干扰引起的负介电损耗可以用常规法或端压法测量,直接测量CVT的低耦合电容会导致负的介电损耗,因此应采用自激法。

由于长期使用,容易造成试验线隐性短路,芯线屏蔽层短路或与插头接触不良,用户应始终维护测试线。当测试标准电容器测试产品时,应使用全屏蔽插头来消除额外杂散电容的影响,否则,介质损耗测试仪的精度就无法反映出来。自励方法是测量VT中的C,非专用高压线路应暂停,否则,附加的杂散电容和介质损耗会导致地面测量误差。

使用万用表测量测试电路是否开路,或芯线和屏蔽是否短路,输入功率过高或过低,接地良好,使用正极或负极导线测量具有已知电容和介质损耗的标准电容器或电容器样品,如果结果正确,则可判断仪器故障。


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