电气和电子设备经受静电放电时的抗扰度性能用什么仪器测试？

人体对物体或两个物体之间产生的静电，可能引起电气，电子设备的电路发生故障，甚至被损坏。所以，模拟静电放电的测试在全世界范围内广泛地应用。静电放电发生器 (ESD Generator) 或叫静电放电模拟器(ESD Simulator)，俗称静电放电q(ESD gun)是电磁兼容测量与试验中静电放电抗扰度(ESD immunity)试验中的重要设备。目的是为了检验电子设备受到外来静电放电时能否正常工作，是国际电工委员会标准IEC61000-4-2

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publication，已同名等效转化为我国标准GB/T 17626.2-2006《电磁兼容试验和测试技术静电放电抗扰度试验》的唯一试验设备。

静电放电发生器主要是应用于对系统级电子设备如手机、电脑的抗人体金属模型静电放电试验。包括静电发生器和静电放电q。静电放电发生器中的静电发生器的输出即有正也有负，有的是正负可以转换，它们的电压双极性高精度输出连续可调。同时适用于更多的应用领域以及未来新标准的要求。所以静电放电发生器可用于绝大多数电气与电子设备的静电放电试验。

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介质损耗测试仪也称为抗干扰介质损耗测试仪，采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，自动化，智能化，测量数据在强干扰条件下是稳定的，但测试数据在使用中显然是不合理的通常如下。

在现场测试时，用钩杆对产品进行检测时，吊钩必须与试验产品良好接触，否则接触件的排放会引起严重的数据波动，特别是在过厚的氧化层或空气管摆动的排水管中导致接触不良。

接地不良也会引起仪表保护数据的严重波动，接地点的涂层应报废，零电阻接地。

用端盖法测量电磁式PT时，由水分引起的T形网络干扰引起的负介电损耗可以用常规法或端压法测量，直接测量CVT的低耦合电容会导致负的介电损耗，因此应采用自激法。

由于长期使用，容易造成试验线隐性短路，芯线屏蔽层短路或与插头接触不良，用户应始终维护测试线。当测试标准电容器测试产品时，应使用全屏蔽插头来消除额外杂散电容的影响，否则，介质损耗测试仪的精度就无法反映出来。自励方法是测量VT中的C，非专用高压线路应暂停，否则，附加的杂散电容和介质损耗会导致地面测量误差。

使用万用表测量测试电路是否开路，或芯线和屏蔽是否短路，输入功率过高或过低，接地良好，使用正极或负极导线测量具有已知电容和介质损耗的标准电容器或电容器样品，如果结果正确，则可判断仪器故障。

局部放电试验干扰要如何抑制？

局部放电产生的信号是微伏量级的。就信号而言,它很容易被外部干扰信号淹没。因此,必须考虑抑制干扰信号的影响,并采取有效的抗干扰措施。局部放电试验仪试验中对某些干扰的抑制方法如下：(1)电源的干扰可以用滤器抑制。该滤波器应能抑制探测器频宽的所有频率,但可以通过低频试验电压进行调节。接地系统的干扰是可以通过单独连接将试验电路连接到适当的接地点来去除的。附近所有的接地金属应良好地接地,没有电场的干扰。（3）放电试验线耦合引入外部干扰源,如高压试验,附近开关 *** 作,无线电发射引起的静电或磁感应和电磁辐射,误导为是放电脉冲。如果不能去除这些干扰信号源,那么对测试线进行加工处理,使它表面光滑，曲率半径大，并对其屏蔽。设计得很好的金属板或金属板上还需要一种屏障。有时候，样品的金属外壳应用作屏蔽。如果可能的话,可以建造一个屏蔽实验室。由于放电脉冲很弱，因此，对测量结果会有很大的误差。为了提高测量精度,除上述抗干扰措施外,局放仪还应采取以下措施:1、在仪器内部,应设有一种专门的电子屏蔽装置，该装置可用于保护仪器的机壳；2、把所有的仪器箱都放在同一水平面上。（1）试验中使用的设备应尽量使用无晕设备,特别是试验变压器和耦合电容。(2)局部放电测试仪滤波器性能好，电源与测量电路高频隔离。3.局部放电测试仪的测试时间应尽量选择在一个干扰较小的时间,如夜间。

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