需要测试半导体厚度，求推荐个好用的仪器？

楼主你可以了解下立仪科技的测厚仪，他们的设备在半导体硅片、锗、碳化硅、氮化镓、第三代半导体材料厚度，平面度，品圆翘曲，蚀刻深度、分割槽深度等领域有着非常不错的应用，而且测量数据精准可靠，仪器 *** 作也简单。

半导体参数分析仪（器件分析仪）是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器，可准确执行电流-电压（IV）和电容测量（CV（电容-电压）、C - f（电容-频率）以及 C – t（电容-时间）测量），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。半导体参数测试是确定半导体器件特征及其制造过程的一项基础测量。在参数测试中，通常需要进行 IV 测量，包括分辨率低至 fA（毫微微安培）的小电流测量和高达 1 MHz 的CV 测量，并对主要特征/参数进行分析。虽然半导体参数分析仪的设计初衷是进行半导体评测，但因其优越的性能、强大的功能以及出色的易 *** 作性，现已在各种材料、器件和电子器件的 IV 和 CV 表征中得到广泛应用。

半导体参数分析仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。参数分析仪集多种测量资源于一身，可轻松进行 IV 和 CV 测量，无需汇集或集成多种仪器，例如电源、电压表、电流表、LCR 表、开关矩阵等。参数分析仪的主要测量元器件是电源/测量单元（SMU）。SMU 是一种将电压/电流源功能和电压/电流表功能结合于单一模块中的测量模块。由于该参数分析仪将电源和测量电路紧密集成，所以相比使用多种独立仪器进行相同测量来说，可以提供更高的精度、分辨率以及更小的测量误差。

此外，参数分析仪还具有分析功能，使您无需借助外部 PC 便可快速地交互检查和分析显示屏上的测量结果。由于半导体参数分析仪具有多种功能，因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。

点击地区设定然后把语言设为中文简体,地区设为中国,文字输入设为中文简体,然后重启电脑。就可以更改为中文显示了。对编制梯形图程序时所必需的功能规格或设定方法进行说明。如果使用模块、宏、局部软件,则可以提高编程效率。

具体读码器的相关信息，请咨询研祥金码。研祥金码的优异的产品性能背后，则离不开Regem Marr研祥金码深厚的历史积淀：这要从二十世纪瑞士的精密机械讲起。在当地的制表中心、也是一代名机阿尔帕诞生地的Ballaigues巴莱格斯小镇，Regem Gabriel称得上是瑞士精密机械制造的佼佼者, 作为一代名机阿尔帕背后的匠人。Regem Gabriel声望很高，他高超的技艺，在阿尔帕的一代代产品中可见一斑。

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