半导体激光二极管808nm什么情况下容易损坏,如何鉴别它好坏!

半导体激光二极管808nm什么情况下容易损坏,如何鉴别它好坏!,第1张

808nm是红外光,眼睛看不到他的光强度,激光通过眼球晶状体聚焦后会成为能量强而光斑小的焦点在视网膜上面,非常容易对眼睛造成损害。所以请不要轻易通电。

用万用表检测的方法是不准确也不科学的,必须要用激光功率计来测量才知道好坏,我有做好的激光二极管测试系统,接上管子就可以用了,可以快递给我替你测试。

激光二极管的损坏有3个原因,一是静电击穿,二是超过额定光功率烧坏,三是寿命(8000小时左右)终结老化衰退。同一个厂家的同型号管子,每个管子所需要的驱动电流都不一样,如果你按照同样电流去通电,很多会烧掉的。必须要通过测试才能知道每个管子的不同电压和电流参数。要根据测试参数来确定驱动电路的电流。我研发的激光二极管检测系统可以快速自动的测试出每个激光二极管的工作电流和电压差数,物美价廉。

我研发的激光二极管检测系统采用逐点扫描的方式快速自动的测试出每个激光二极管的工作电流和电压等所有差数,光功率或者电流其中有一个达到限制值,就会立即停止通电,保护激光二极管不被烧坏。个人资料里面有我的联系方式。

放心吧,都是质量保障的,而且都有资质认证的,原厂正品,完全不用担心任何质量问题。

以下教你你个辨别真假芯片方法:

1、看芯片表面是否有打磨过的痕迹

凡打磨过的芯片表面会有细纹甚至以前印字的微痕,有的为掩盖还在芯片表面涂有一层薄涂料,看起来有点发亮,无塑胶的质感。

2、看印字

现在芯片绝大多数采用激光打标或用专用芯片印刷机印字,字迹清晰,既不显眼,又不模糊且很难擦除。翻新的芯片要么字迹边沿受清洗剂腐蚀而有"锯齿"感,要么印字模糊、深浅不一、位置不正、容易擦除或过于显眼。

另外,丝印工艺现在的IC大厂早已淘汰,但很多芯片翻新因成本原因仍用丝印工艺,这也是判断依据之一,丝印的字会略微高于芯片表面,用手摸可以感觉到细微的不平或有发涩的感觉。

不过需留意的是,因近来小型激光打标机的价大幅降低,翻新IC越来越多的采用激光打标,某些新片也会用此方法改变字标或干脆重打以"提高"芯片的档次,这需要格外留意,且区分方法比较困难,需练就"火眼金睛"。

主要的方法是看整体的协调性,字迹与背景、引脚的新旧程度不符如字标过新、过清有问题的可能性也较大,但不少小厂特别是国内的某些小IC公司的芯片却生来如此,这为鉴定增添了不少麻烦,但对主流大厂芯片的判断此法还是很有意义的。

另外,近来用激光打标机修改芯片标记的现象越来越多,特别是在内存及一些高端芯片方面,一旦发现激光印字的位置存在个别字母不齐、笔画粗细不的,可以认定是Remark的。

3、看引脚

凡光亮如"新"的镀锡引脚必为翻新货,正货IC的引脚绝大多数应是所谓"银粉脚",色泽较暗但成色均匀,表面不应有氧化痕迹或"助焊剂",另外DIP等插件的引脚不应有擦花的痕迹,即使有(再次包装才会有)擦痕也应是整齐、同方向的且金属暴露处光洁无氧化。

4、看器件生产日期和封装厂标号

正货的标号包括芯片底面的标号应一致且生产时间与器件品相相符,而未Remark的翻新片标号混乱,生产时间不一。Remark的芯片虽然正面标号等一致,但有时数值不合常理(如标什么"吉利数")或生产日期与器件品相不符,器件底面的标号若很混乱也说明器件是Remark的。

5、测器件厚度和看器件边沿

不少原激光印字的打磨翻新片(功率器件居多)因要去除原标记,必须打磨较深,如此器件的整体厚度会明显小于正常尺寸,但不对比或用卡尺测量,一般经验不足的人还是很难分辨的,但有一变通识破法,即看器件正面边沿。因塑封器件注塑成型后须"脱模",故器件边沿角呈圆形(R角),但尺寸不大,打磨加工时很容易将此圆角磨成直角,故器件正面边沿一旦是直角的,可以判断为打磨货。

除此之外,再有一法就是看商家是否有大量的原外包装物,包括标识内外一致的纸盒、防静电塑胶袋等,实际辨别中应多法齐用,有一处存在问题则可认定器件的货质。


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