有人了解科电Teseq 特测 NSG4070C1 射频传导抗扰度测试系统吗？这个产品有什么特点？

科电Teseq 特测 NSG4070C1 射频传导抗扰度测试系统的产品特点是：NSG 4070C1，即NSG 2070的改进版 — 多功能EMC抗扰度测试系统。NSG 4070C1具有广阔的频率范围（从9 kHz至1 GHz）、使用外部或内部放大器的模块结构，因此它的应用范围很广：包括按照IEC 61000-4-6进行的测试，ISO 11452-4大电流注入测试，军标GJB 151B中CS 114的测试，在IEC 61000-4-20、IEC 61000-4-21应用中作为测试系统的信号发生器和功率计等。由于具有强大并易 *** 作的固件，NSG 4070C1无需外部电脑和控制软件控制即可独立工作，当然，也可以用远程控制对它进行系统 *** 作。将USB存储器插入面板，便可传输并保存最新的测试和测量数据以生成测试报告。

等效于「IEC61000-4-5 Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniquess—Surge immunity test」的「GB/T 17626.5电磁兼容试验和测量技术-浪涌(冲击)抗扰度试验」规定了对由于开关和雷电瞬变过电压引起的单极性浪涌(冲击)的抗扰度要求、试验方法和推荐的试验等级，同时规定了几个与不同环境和安装状态的试验等级。此项试验就是要评价EUT(DUT)在规定的工作条件下，对于由开关或雷电作用所产生的有一定危害电平的浪涌(冲击)电压的反应和耐受能力。

关于半导体芯片抗反向浪涌试验，基多年之发展，已由开始阶段的“反向过电压冲击”逐渐进展到“反向过电流冲击”、“反向功率冲击”并发展到目前的“非重复雪崩能量”、“重复雪崩耐量(规定瞬态脉冲宽度)”。说明了半导体芯片抗浪涌耐量的提升，现已普遍在SBD、SFD、FRED等制品上得到应用。

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