半导体制冷片如何用万用表来测试判断好坏?

半导体制冷片如何用万用表来测试判断好坏?,第1张

半导体制冷片的好坏可以采用万用表测量其电阻,电流或者电压来进行判断,半导体制冷片电阻正常范围为0-0.05欧,半导体制冷片电流正常范围为0-0.09安,半导体制冷片电压正常范围为0-0.1伏。

1、首先需要将万用用笔两只表笔接在半导体制冷片和地线上,分红线和黑线,红线是连接半导体制冷片的正极,黑线是连接半导体制冷片的负极。

2、接下来确定是通过测半导体制冷片交流电流还是半导体制冷片直流电流来验证好坏,是直流电压,则要把档位调到如图直流区,接在测量的线路上。

3、线路是220v的话是选用黑线,如果是测半导体制冷片交流电流,则把档位调至交流电流档区,直流电流和交流电流对应两种不同的档位。

4、将红黑表笔插入排差,万用表读出数值00.4A。有数字显示即为正常的半导体制冷片线路的电流数字,则证明半导体制冷片良好。

扩展资料:

使用注意

1、在使用万用表之前,应先进行“机械调零”,即在没有被测电量时 ,使万用表指针指在零电压或零电流的位置上。

2、在使用万用表过程中,不能用手去接触表笔的金属部分 ,这样一方面可以保证测量的准确,另一方面也可以保证人身安全。

3、在测量某一电量时,不能在测量的同时换档,尤其是在测量高电压或大电流时 ,更应注意。否则,会使万用表毁坏。如需换档,应先断开表笔,换档后再去测量。

参考资料来源:百度百科-万用表

半导体发光二极管是一种极为重要的发光器件,它们不但在电子仪表显示、照明、大规模集成电路、光通信等方面有着广泛的应用,在研究领域也一直倍受人们的关注。本文对半导体发光二极管的正向电特性进行了较为系统的研究,其中的主要工作可以概括如下: 1.对现有的实验仪器TH2819 Precision LCR Meter进行了开发与改进,实现了计算机对它的远程控制,大大提高了测试效率根据实验需要,自行组建了实验装置,包括低频电学测试装置和交流电压调制发光实验装置。 2.采用基于并联模式的交流小信号法,在20Hz至100kHz的频率范围内,对半导体发光二极管的正向交流电特性进行了检测,并对实验结果进行了电压分段讨论。3.用低频电学测试装置,在1Hz至20Hz的频率范围内,对半导体发光二极管的电容特性进行了测试。实验结果表明,所有发光二极管在明亮发光时的电容仍为负值。 4.用交流电压调制发光装置对发光二极管的相对发光强度和发光相角进行了检测,并对相对发光强度和发光相角随频率变化的特征曲线进行了定性解释。 5.在我们测试的频率范围内,半导体发光二极管中普遍存在着负电容现象,并且测试频率越低、正向电压越大,负电容现象就越显著相对发光强度的频率特性曲线表明,影响发光二极管负电容的因素除了载流子的强辐射复合外,还有一个与频率密切相关的相位因子 6.通过对实验结果进行仔细分析,总结出负电容随电压、频率变化关系的经验公式。【关键词】:半导体发光二极管 正向交流小信号法 负电容 低频特性 相对发光强度 发光相角


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