如何测量半导体材料的载流子浓度

如何测量半导体材料的载流子浓度,第1张

半导体载流子计算公式:n = p = K1*T^3/2*e^-E(go)/(2kT),n和p为载流子浓度,第一个T为热力学温度,E(go)为为热力学零度时破坏公价键所需的能量,k为玻耳兹曼常数. 半导体载流子即半导体中的电流载体。在物理学中,载流子指可以自由移动的带有电荷

在一定的温度条件下,被测气体到达半导体敏感材料表面时将与其表面吸附的氧发生化学反应,并导致半导体敏感材料电阻发生变化,其电阻变化率与被测气体浓度呈指数关系,通过测量电阻的变化即可测得气体浓度。

单支半导体气体传感器通过选择性催化、物理或化学分离等方式在已知环境中可以实现对气体的有限识别。大规模半导体气体传感器阵列可以实现对未知环境中气体种类的精确识别。

半导体气体传感器注意事项

锡焊是利用低熔点的金属焊料加热熔化后,渗入并充填金属件连接处间隙的焊接方法,在电子工业中应用广泛。但电化学气体传感器安装时不能使用锡焊。

电化学气体传感器内部的加热丝在高温环境中,表面会形成保护性氧化膜,氧化膜存在一段时间后又会发生老化,形成不断生成和被破坏的循环过程,加热丝内部元素不断消耗,非常容易产生断丝。

一定的电荷转移我们可以用以下公式对本征半导体中的自由电子的浓度进行计算:

ni(T)=AT3/2e-EG/2kT式中,

EG——电子挣脱共价键束缚所需要的能量,单位是eV(电子伏),又被称为禁带宽度;

T——温度;

A——系数;

k——波耳兹曼常数(1.38×10-23J/K);

e——自然对数的底。


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