做
半导体高度
测量的话测量有很多限制,最好还是用专业的测量方法,用光谱测量法就是一个不错的选择,现在有很多先进的光谱测量设备,立仪科技这边提供的就有专业的光谱共焦光学测量设备,能精确的对半导体的高度进行测量,他们的设备适用领域广泛,测量的效率也挺高的,能有效的保证测量的精确度,我们企业就是用的他们这边提供的测量设备,确实更靠谱。◆半导体的一些
特性∶掺杂性(在形成晶体结构的半导体中,人为地掺入特定的杂质元素,导电性能具有可控性。),热敏性,光敏性(在光照和热辐射条件下,其导电性有明显的变化。),负电阻率温度特性,整流特性,磁变特性。因此用半导体制作的传感器就可以测量多方面的物理量:
●热敏传感器:利用半导体在不同温度下具有不同电阻的特性来测量物体的温度;
●光敏传感器:利用半导体受光量的不同而具备的电阻率的不同,实现光强度的测量、亮度自动控制,或利用遮光原理实现计数、转速测量及先后次序测量等;
●负阻特性可用来检测温度变化,实现恒稳控制等应用,也可以监控电压电流变化;
●利用参杂性可实现化学性质变化的测量和报警,可制成烟雾、瓦斯报警器等。
●利用半导体的磁特性设计的霍尔传感器,可以测磁、测距。
◆所有根据半导体的特性设计的传感器都可认为是半导体传感器。
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