无机半导体薄膜 如何量测期能带(未知材料)

X-射线衍射可以测量，固体物理有讲，比如这篇文章比较具体《Electronic structure of GaN and Ga

investigated by soft x-ray spectroscopy and first-principles methods》，你可以在Google里直接下到全文

不透光的样品需要用到ATR附件，利用红外反射（而不是投射）来检测。

另外，对于无机物，一般不用常规的中红外光谱（波数范围 400 ～ 4000 cm^-1）检测，而是用远红外光谱（波数范围 <400 cm^-1）

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