测的CV曲线是有向上或者向下的两个峰的,用锂电池的术语来说就是氧化和还原峰。
CV曲线是由控制顶点控制的NURBS曲线。是用来测量半导体材料和器件的一种方法。该测量方法可以得到关于半导体掺杂,晶体缺陷之类的特性。
SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。CV:CV曲线可以测试得到很多信息,比如所需电沉积电压,电流,以及半导体行业可以得到直流偏压EIS:EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位,阻抗信息,从而模拟出系统内在串联电阻,并联电阻和电容相关信息BET:主要是测试材料比表面积的,可以得到材料的比表面积信息。XRD:主要是测试材料的物性,晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。质谱:主要用于鉴定材料的化学成分,包括液相质谱,气象质谱欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
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