半导体探针在IC测试治具中起到什么作用

IC测试探针的的设计使得其d簧空间比常规探针的要大，所以能获得更长的寿命。

2、不间断电接触设计

行程超过有效行程（2/3行程）或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗，消除因探针造成的假性开路造成的误判。

3、提高了测试精度

IC测试针因为更加精细，通常直径都是0.58mm以下，总长不超过6毫米，所以能够达到同规格产品更好的精准度。

IC测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。http://ic.big-bit.com/

测试针，用于测试PCBA的一种探针。

表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能d簧。

国外比较有名的生产厂家有： QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探针的材质：W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材质为W，ReW, d性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。

2. A+材质的免清针，这种材质d性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。

探针分类

探针根据电子测试用途可分为：A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品；

B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；

C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。

探针主要类型：悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针：劈刀型（Blade Type）和环氧树脂型（Epoxy Type）

垂直探针：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探针　（ICT series Probes)

一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试．也称ICT测试和FCT测试．也是目应用较多的一种探针．

2.界面探针(Interface Probes)

非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达（Teradyne)和安捷伦（Agilent)．用于测试机台与测试夹具的接触点和面．

3.微型探针（MicroSeries Probes)

两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm．

4.开关探针（Switch Probes)

开关探针单独一支探针有两路电流．

5.高频探针（Coaxial Probes)

用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的．

6.旋转探针（Rotator Probes)

d力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试．

7.高电流探针（High Current Probes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amps.

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz,50Ω characteristic

9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长．

10.汽车线束测试测试探针

专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A

除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用．